[發(fā)明專利]檢測器設(shè)備、定位代碼和位置檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201780067048.6
• 申請日: 2017-11-02
• 公開（公告）號: CN109891196B
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: P·瑪薩;I·瑪薩
• 申請（專利權(quán)）人: 普萊希萊布斯股份有限公司
• 主分類號: G01D5/347
• 分類號: G01D5/347;G06K19/06
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 胡利鳴

1.一種檢測器設(shè)備，包括：

像素的二維排列，其包括行像素和列像素并且具有行方向和列方向，所述像素沿所述行方向按多個(gè)行對齊并且所述像素沿所述列方向按多個(gè)列對齊，每個(gè)像素包括：

傳感器元件，

輸出，其輸出與入射在所述傳感器元件上的輻射強(qiáng)度相對應(yīng)的電信號，

讀出選擇輸入，所述像素通過所述讀出選擇輸入來被選擇以輸出所述電信號，以及

所述傳感器元件與所述輸出之間的非破壞性讀出電路；

用于行像素的每行的行讀出布線，所述行像素的行中的每個(gè)行像素的輸出使用所述行像素的讀出選擇輸入來可選擇性地耦合至用于該行像素的行的所述行讀出布線，所述行讀出布線被配置成傳送來自所述行像素中被選擇性地耦合至所述行讀出布線的每個(gè)行像素的電信號之和；

用于行像素的每列的列選擇布線，所述列選擇布線被耦合至所述行像素的列中的每個(gè)行像素的所述讀出選擇輸入；

用于列像素的每列的列讀出布線，所述列像素的列中的每個(gè)列像素的輸出使用所述列像素的讀出選擇輸入來可選擇性地耦合至用于該列像素的列的所述列讀出布線，所述列讀出布線被配置成傳送來自所述列像素中被選擇性地耦合至所述列讀出布線的每個(gè)列像素的電信號之和；

用于列像素的每行的行選擇布線，所述行選擇布線被耦合至所述列像素的行中的每個(gè)列像素的所述讀出選擇輸入；

連接至所述列選擇布線和所述行選擇布線的列和行選擇設(shè)備，其被配置成同時(shí)選擇用于行并行讀出的行像素的一列或多列、以及用于列并行讀出的列像素的一行或多行；

第一多個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器，其被配置成用于行并行操作，所述第一多個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器中的每一者被連接到相應(yīng)的行讀出布線；以及

第二多個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器，其被配置成用于列并行操作，所述第二多個(gè)模數(shù)轉(zhuǎn)換器中的每一者被連接到相應(yīng)的列讀出布線。

2.如權(quán)利要求1所述的檢測器設(shè)備，其特征在于，所述像素的二維排列具有兩個(gè)對角方向，所述像素沿所述對角方向按對角對齊，并且所述行像素和列像素沿所述對角方向被交替地排列，并且每個(gè)對角方向與所述行方向、所述列方向、以及另一個(gè)對角方向相交。

3.如權(quán)利要求2所述的檢測器設(shè)備，其特征在于，所述像素具有類似菱形的形狀，所述形狀具有與所述兩個(gè)對角方向平行的側(cè)邊，并且所述像素以小于所述類似菱形的形狀的所述側(cè)邊的長度的間隔來排列。

4.如權(quán)利要求1所述的檢測器設(shè)備，其特征在于，所述非破壞性讀出電路包括跨導(dǎo)單元，所述跨導(dǎo)單元的輸入連接至所述傳感器元件，并且所述跨導(dǎo)單元提供所述像素的輸出。

5.如權(quán)利要求1所述的檢測器設(shè)備，其特征在于，每個(gè)讀出選擇輸入由MOSFET的柵極端子來提供，耦合至所述讀出選擇輸入的相應(yīng)的像素行或列中的每個(gè)像素的輸出被耦合到所述MOSFET的源極，并且所述MOSFET的漏極被耦合到相應(yīng)的行讀出布線或列讀出布線。

6.如權(quán)利要求1所述的檢測器設(shè)備，其特征在于，所述列和行選擇設(shè)備是可編程地址發(fā)生器和定序器單元。

7.如權(quán)利要求1所述的檢測器設(shè)備，其特征在于，所述列和行選擇設(shè)備包括可寫寄存器，并且寫入所述寄存器的數(shù)據(jù)比特確定該寄存器所選擇的行或列。