[發明專利]光學粒子檢測器

在審

• 申請號: 201780065704.9
• 申請日: 2017-10-19
• 公開（公告）號: CN109891212A
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: P·范德斯盧斯
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14;G01N15/02;G01N21/47;G01N21/64
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 鄭立柱

1.一種用于檢測粒子的設備(100)，包括：

第一光源(101)，被定位用于照亮穿過所述設備(100)的檢測區(130)的粒子(120)；

第一檢測器(104)，被定位并且適于檢測所述檢測區(130)中來自由所述第一光源(101)所照亮的粒子的光信號；

處理器(110)，被配置用于根據由所述第一檢測器(104)所檢測的光信號來確定穿過所述檢測區(130)的所述粒子的類型；

部件(105)，用于檢測粒子何時穿過所述檢測區(130)；

控制器(103)，被耦合到所述部件(105)并被配置為當粒子穿過所述檢測區(130)時、利用第一脈沖電流操作所述第一光源(101)從而延長所述第一光源(101)的壽命；

其特征在于：

所述控制器被配置為使得所述第一脈沖電流的幅值超過所述第一光源(101)的連續電流損壞閾值，從而增加所述第一光源(101)的光輸出，其中所述連續電流損壞閾值是能夠被連續地供應給所述第一光源(101)而不由于過熱損壞所述第一光源(101)的最大電流。

2.根據權利要求1所述的設備(100)，其中所述第一光源(101)是LED。

3.根據權利要求1所述的設備(100)，其中所述第一光源(101)是UV LED，并且其中所述第一檢測器(104)適于檢測熒光。

4.根據權利要求1所述的設備(100)，其中所述第一光源(101)是IR LED，并且其中所述第一檢測器(104)適于檢測IR光。

5.根據權利要求1所述的設備(100)，還包括：

第二光源(106)，被定位用于照亮穿過所述檢測區(130)的粒子，所述第二光源(106)具有不同于所述第一光源(101)的波長范圍，和

第二檢測器(107)，被定位并且適于檢測所述檢測區(130)中來自由所述第二光源(106)所照亮的粒子的光信號，

其中所述控制器(103)還被配置為當粒子穿過所述檢測區(130)時、利用第二脈沖電流操作所述第二光源(106)，從而延長所述第二光源(106)的壽命，其中所述第二脈沖電流的幅值被選擇為超過所述第二光源(106)的連續電流損壞閾值，從而實質上地增加所述第一光源(101)的光輸出，其中所述連續電流損壞閾值是能夠被連續地供應給所述第二光源(106)而不由于過熱損壞所述第二光源(106)的最大電流，并且

其中所述處理器(110)還被配置用于根據由所述第二檢測器(104)所檢測的光信號來確定穿過所述檢測區(130)的粒子的類型。

6.根據權利要求5所述的設備(100)，其中所述第二光源(106)是LED。

7.根據權利要求5或6所述的設備(100)，其中所述第一光源(101)具有紫外線波長范圍，并且其中所述第一檢測器(104)適于檢測熒光；其中所述第二光源(106)具有紅外線波長范圍，并且其中所述第二檢測器(107)適于檢測紅外光。

8.根據前述權利要求中任意一項所述的設備(100)，

其中用于檢測粒子何時穿過所述檢測區(130)的所述部件(105)包括：

另一光源(105a)，被定位用于照亮所述檢測區(130)；和

另一檢測器(105b)，被定位用于接收所述檢測區(130)中來自由所述另一光源(105a)所照亮的粒子的光。

9.根據權利要求8所述的設備(100)，其中所述另一光源(105a)是發光二極管。

10.根據權利要求8或9所述的設備(100)，其中所述另一光源(105a)具有所述可見光范圍內或接近所述可見光范圍的波長范圍。

11.根據權利要求8所述的設備(100)，其中所述處理器還被配置用于根據由所述另一檢測器(105b)所檢測的光信號確定穿過所述檢測區(130)的粒子的類型。