[發明專利]用于檢查系統的同軸和漫射照明

在審

• 申請號: 201780061811.4
• 申請日: 2017-10-06
• 公開（公告）號: CN109891215A
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: M·S·朗;T·J·馬戴;D·R·約翰遜
• 申請（專利權）人: 哈欽森技術股份有限公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;H04N1/06;F21V7/04;G01N21/47;G01N21/84;G01B11/30
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 蔡洪貴

描述了一種檢查系統。該檢查系統包括相機和殼體。該殼體容納反射罩。該反射罩包括頂點和視口。該視口從頂點偏移。相機被安裝以捕獲通過視口離開該反射罩的光。并且，多個光源繞著該反射罩布置，使得從多個光源輸出的光進入該罩。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2017年10月6日提出的美國專利申請第15/727,215號的權益，該美國專利申請要求于2016年10月7日提出的美國臨時專利申請第62/405,549號的優先權，這些專利文獻的每篇的全部內容通過引用并入本文。

技術領域

本發明的實施例總體上涉及檢查系統。本發明的實施例尤其涉及用于檢查系統的照明。

背景技術

基于相機的檢查系統已經用于使小型和/或大量制造部件的檢查自動化，或者用于增強小型和/或大量制造部件的人工檢查。例如，與在沒有這種系統的情況下人工所能實現的相比，基于相機的檢查系統能夠以更快的速度和/或對于非常小的部件識別出不合格項，諸如制造誤差或污染。這些系統需要足夠的分辨率來識別被檢查部件中的不合格項。若干因素影響基于相機的檢查系統以其操作的分辨率。這些因素包括相機的質量、正被檢查的部件的性質，以及對部件的照明。在某些應用中，對部件的照明是必要的。仍然存在對增強的基于相機的檢查系統的持續需求。

發明內容

描述了一種檢查系統。該檢查系統包括相機和殼體。該殼體容納反射罩。該反射罩包括頂點和視口。該視口從頂點偏移。相機被安裝以捕獲通過視口離開該反射罩的光。并且，多個光源繞著該反射罩布置，使得從多個光源輸出的光進入該罩。

本發明實施例的其它特征和優點將從附圖和以下的詳細說明顯而易見。

附圖說明

在附圖的各圖中通過舉例而非限制的方式示出了本發明的實施例，個圖中類似的附圖標記表示類似的元件。

圖1是根據實施例的檢查系統的透視圖。

圖2是根據實施例的檢查系統的另一透視圖。

圖3是根據實施例的檢查系統的照明殼體的詳細透視圖。

圖4是圖3實施例的沿著線AA的橫截面視圖。

圖5是圖3實施例的沿著線BB的橫截面視圖。

圖6是圖3實施例的沿著線AA的詳細橫截面視圖。

圖7是圖3實施例的沿著線AA的另一詳細橫截面視圖。

圖8是圖3實施例的沿著線AA但從相對于圖4的橫截面視圖的不同角度的橫截面視圖。

圖9是圖3實施例的沿著線AA但從相對于圖4的橫截面視圖的不同角度的橫截面視圖。

具體實施方式

本文進一步介紹了與基于相機的檢查系統相關的照明部件的諸多方面。基于相機的檢查系統可以利用兩種類型的照明來照亮被檢查的部件。第一種類型的照明是同軸照明。在同軸照明中使用的光通常是單一、窄而強的光束。光束的路徑可以被正被檢查的部件反射，隨后直接進入相機。在某些應用中，所述光束的所有光子基本上都沿著平行的路徑傳播。由于光束的方向一致性，同軸照明會在由具有不規則輪廓(例如，包含隆起、邊緣、斷片、折疊、折痕等)的表面反射時留下陰影。同軸照明對于評估表面的斜率或結構特征尤其有用。

第二種類型的照明是漫射照明，其中光從多個方向或角度產生。由角距上接近半球(2π球面度)的光源提供的漫射照明也被稱為“陰天”照明。在漫射照明中使用的光沿著許多不同并且通常不可預測的路徑傳播。與同軸照明相比，漫射照明單位面積的強度更低。因此，漫射照明在需要高通量的應用中可能不太有效。由于漫射照明中光的方向變化，漫射照明可以消除許多(即使不是全部)由表面結構導致的陰影。雖然漫射照明在查看曲面時具有很多優點，但是漫射照明會沿著相機的軸線留下盲點。