[發明專利]改進的隨機數發生器，特別是改進的真隨機數發生器有效
| 申請號： | 201780061204.8 | 申請日： | 2017-10-20 |
| 公開（公告）號： | CN109804348B | 公開（公告）日： | 2023-07-25 |
| 發明（設計）人： | N·馬薩里;F·阿克比;G·豐塔納;D·斯托帕;N·佐齊;L·帕韋西;M·薩拉;A·邁尼蓋蒂;L·加斯帕里尼;Z·比薩迪;A·托馬西;G·普科;C·皮埃蒙特 | 申請（專利權）人： | 特倫蒂諾發展公司 |
| 主分類號： | G06F7/58 | 分類號： | G06F7/58;H04L9/08 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 蔡悅;陳斌 |
| 地址： | 意大利*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 改進 隨機數 發生器 特別是 | ||
1.一種類型的隨機數發生器(1)，包括：
-光子源(2)；
-一個或多個光子檢測器(31)，所述一個或多個光子檢測器(31)以檢測屬于由所述光子源(2)生成的供檢測光子流(λ)的至少一個光子的方式來配置；
-電子采樣裝置(4)，所述電子采樣裝置(4)與所述一個或多個光子檢測器(31)可操作地相關聯并以基于所述供檢測光子(λ)中的每一者的到達時間來實現用于提取二進制序列的邏輯方法的方式來配置；
所述光子源(2)和所述一個或多個光子檢測器(31)被布置，使得所述光子源(2)和所述一個或多個光子檢測器(31)彼此毗鄰并被集成在單個半導體襯底(5)中；
其特征在于，所述邏輯方法包括以下步驟：
-將所述光子檢測器(31)中的每一者的觀察窗口細分為具有相同持續時間的多個連續觀察子窗口(Tw、Tw1、Tw2、Tw3、Tw4)；
-檢測所述連續觀察子窗口(Tw、Tw1、Tw2、Tw3、Tw4)中的每一者中的第一光子的到達時間；
-在所述光子檢測器(31)在所述連續觀察子窗口(Tw、Tw1、Tw2、Tw3、Tw4)中的一者或多者期間沒有檢測到光子的情形下，所述光子在一個或多個連續觀察子窗口(Tw、Tw1、Tw2、Tw3、Tw4)的到達時間被認為是長于所述一個或多個連續觀察子窗口(Tw、Tw1、Tw2、Tw3、Tw4)的總持續時間；
-比較在一對毗鄰連續觀察子窗口(Tw1-Tw2、Tw3-Tw4)處檢測到的到達時間；
-在針對所述對毗鄰連續觀察子窗口(Tw1-Tw2、Tw3-Tw4)的第一子窗口(Tw1、Tw3)檢測到的到達時間超過針對第二子窗口(Tw2、Tw4)檢測到的到達時間的情形下，指派比特“1”，或者在針對所述對毗鄰連續觀察子窗口(Tw1-Tw2、Tw3-Tw4)的第二子窗口(Tw2、Tw4)檢測到的到達時間超過針對第一子窗口(Tw1、Tw3)檢測到的到達時間的情形下，指派比特“0”。
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