[發(fā)明專利]用于選擇性沉積的選擇性改良的原位預(yù)清潔在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780058629.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109983155A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-07-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳凱;維卡什·班西埃;柳尚澔;張鎂;馬飛躍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 應(yīng)用材料公司 |
| 主分類號(hào): | C23C16/04 | 分類號(hào): | C23C16/04;C23C16/02;C23C16/14 |
| 代理公司: | 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國(guó);趙靜 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 預(yù)清潔 等離子體 第二表面 第一表面 沉積膜 選擇性沉積 氬氣 表面暴露 介電表面 金屬表面 氫氣 基板 沉積 改良 暴露 | ||
1.一種選擇性地沉積膜的方法,所述方法包括以下步驟:
提供基板,所述基板具有第一表面和與所述第一表面不同的第二表面;
將所述基板暴露于預(yù)清潔等離子體,所述預(yù)清潔等離子體包括氬氣或氫氣之一或更多者,以形成已預(yù)清潔基板;和
于所述已預(yù)清潔基板的相對(duì)于所述第二表面的所述第一表面上選擇性地沉積金屬膜。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其中實(shí)質(zhì)上沒(méi)有所述金屬膜沉積于所述第二表面上。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第一表面和所述第二表面為實(shí)質(zhì)上共面的。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其中對(duì)所提供的所述基板先前已進(jìn)行化學(xué)機(jī)械平坦化工藝。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其中在不暴露于空氣的情況下對(duì)所述基板已進(jìn)行先前的工藝。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其中在相同的處理腔室內(nèi)對(duì)所述基板已進(jìn)行先前的工藝。
7.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第一表面為金屬表面且所述第二表面為介電表面。
8.如權(quán)利要求7所述的方法,其中所述金屬表面包括鈷、銅、鎢或釕之一或更多者。
9.如權(quán)利要求8所述的方法,其中所述預(yù)清潔等離子體從所述金屬移除氧化物。
10.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述金屬膜包括鎢、鈷或銅之一或更多者。
11.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述金屬膜具有大于或等于約50:1的選擇性。
12.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述預(yù)清潔等離子體具有在約10毫托至約1托的范圍內(nèi)的壓力。
13.如權(quán)利要求1所述的方法,其中于約室溫的溫度下將所述預(yù)清潔等離子體暴露于所述基板。
14.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述預(yù)清潔等離子體基本上由氬氣所組成。
15.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述預(yù)清潔等離子體基本上由氫氣所組成。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過(guò)氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過(guò)浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無(wú)機(jī)材料為特征的





