[發明專利]用于清潔以及將接合元件接合到工件上的方法和裝置有效
| 申請號: | 201780056366.2 | 申請日: | 2017-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN109689269B | 公開(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發明(設計)人: | 巴赫·伊斯莎拉;格爾森·梅舒特;克里斯蒂安·里斯 | 申請(專利權)人: | 紐弗雷有限公司 |
| 主分類號: | B23K9/095 | 分類號: | B23K9/095;B08B7/00;B23K9/20;B23K9/235;B23K11/00;B23K11/34;B23K11/36 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 顧紅霞;楊利劍 |
| 地址: | 美國康*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 清潔 以及 接合 元件 工件 方法 裝置 | ||
1.一種用于將接合元件(18)接合到工件(20)上的方法(50),特別是用于螺柱焊接或螺柱膠合的方法,其特征在于以下步驟:
–提供接合元件(18)和工件(20),所述接合元件(18)將接合到所述工件(20)上;
–檢測所述工件(20)和/或所述接合元件(18)的至少一個特征變量的檢測步驟(52);
–評估所述至少一個特征變量,并將所述至少一個特征變量分類為至少第一變量類和第二變量類中的一者;
–如果所述至少一個特征變量被分類為所述第一變量類,則執行接合過程;以及
–如果所述至少一個特征變量被分類為所述第二變量類,則對所述工件(20)和/或所述接合元件(18)執行清潔過程,并且在所述清潔過程之后,執行接合過程;
其特征在于,所述清潔過程是獨立于所述接合過程執行的清潔過程,并且使用清潔介質(R)執行所述清潔過程。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述清潔介質(R)包括氣體。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,所述清潔介質(R)包括冰射流。
4.根據權利要求3所述的方法,其中,所述檢測步驟(52)包括以下檢測過程(E)中的至少一個:接觸電阻測量、導電率測量和熒光測量。
5.根據權利要求2所述的方法,其中,所述檢測步驟(52)包括以下檢測過程(E)中的至少一個:接觸電阻測量、導電率測量和熒光測量。
6.根據權利要求1所述的方法,其中,所述檢測步驟(52)包括以下檢測過程(E)中的至少一個:接觸電阻測量、導電率測量和熒光測量。
7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中,利用標準接合參數或者已經相對于所述標準接合參數進行了變改的接合參數來執行每個單獨的接合過程,并且其中使用所述標準接合參數執行在所述清潔過程之后執行的所述接合過程。
8.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中,利用標準接合參數或者已經相對于所述標準接合參數進行了變改的接合參數來執行每個單獨的接合過程包括以下步驟:
–提供接合元件(18)和工件(20),所述接合元件(18)將接合到所述工件(20)上;
–檢測所述工件(20)和/或所述接合元件(18)的至少一個特征變量;
–評估所述至少一個特征變量;以及
–如果所述至少一個特征變量位于第一值范圍內,則使用標準接合參數執行所述接合過程,或者如果所述至少一個特征變量位于第二值范圍內,則使用變改的接合參數執行所述接合過程。
9.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中,所述清潔過程被執行0.1秒到5秒的時間段(TR)。
10.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中,在所述清潔過程之后,再次檢測所述至少一個特征變量,并且隨后在執行所述接合過程之前,再次執行所述至少一個特征變量的評估。
11.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中,在所述接合過程之后,執行補充清潔過程。
12.根據權利要求1至6中任一項所述的方法,其中,使用標準接合參數或使用變改的接合參數來執行所述接合過程,其中所述接合參數包括所述接合過程是否包括先行的電弧清潔過程(C)。
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