[發(fā)明專利]貼合式SOI晶圓的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780055519.1 | 申請日: | 2017-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN109690733B | 公開(公告)日: | 2022-10-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 石塚徹;濱節(jié)哉 | 申請(專利權(quán))人: | 信越半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京京萬通知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11440 | 代理人: | 許天易 |
| 地址: | 日本東京都千*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 貼合 soi 制造 方法 | ||
1.一種貼合式SOI晶圓的制造方法,具有對內(nèi)面具有氧化膜的貼合式SOI晶圓在氬氛圍下實(shí)施熱處理而使SOI層的表面平坦化的步驟,其中
于通過批次式熱處理爐而進(jìn)行在該氬氛圍下的熱處理時(shí),于收納在該批次式熱處理爐內(nèi)的相鄰的該貼合式SOI晶圓之間,配置硅晶圓作為擋片而進(jìn)行熱處理。
2.如權(quán)利要求1所述的貼合式SOI晶圓的制造方法,其中作為該擋片而使用的硅晶圓系為尚未作為該擋片而使用的鏡面研磨晶圓,或?yàn)橛谧鳛樵摀跗褂煤髮?shí)施洗凈的鏡面研磨晶圓。
3.如權(quán)利要求1或2所述的貼合式SOI晶圓的制造方法,其中在該氬氛圍下的熱處理的溫度為1150℃以上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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