[發明專利]用于估計磁性物體的參考軸與磁軸之間的角度偏差的方法

有效

• 申請號: 201780054445.X
• 申請日: 2017-07-10
• 公開（公告）號: CN109716168B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 賽費德迪內·阿勒維;弗蘭克·維亞爾;珍-瑪麗·杜普雷拉圖爾;吉揚·索瓦尼亞克;特里斯坦·奧森
• 申請（專利權）人: 高級磁互作用公司（AMI）;原子能和替代能源委員會
• 主分類號: G01V3/08
• 分類號: G01V3/08;G01R33/00;G01R33/02
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 謝攀;劉繼富

1.一種用于估計磁性物體(2)的參考軸(A_ref)和與所述磁性物體(2)的磁矩(m)共線的磁軸之間的角度偏差以分選所述磁性物體的方法，包括以下步驟：

a)將所述磁性物體(2)定位(90)為面向至少一個磁力計(M_i)，所述至少一個磁力計能夠測量存在磁性物體(2)時的磁場(B)；

b)使所述磁性物體(2)圍繞所述參考軸(A_ref)旋轉(110)；

c)在旋轉期間，使用所述磁力計(M_i)來測量(110)在測量持續時間(T)的不同時刻(t_j)的磁場(B_i(t_j))；

d)根據磁場(B_i)的測量(B_i(t_j))來估計(130；230)角度偏差

e)將所述角度偏差與閾值進行比較；以及

f)基于所述角度偏差和所述閾值的比較結果對所述磁性物體進行分選，

其中，所述磁性物體(2)是具有對稱軸的圓柱形磁體，所述參考軸(A_ref)是所述圓柱形磁體的對稱軸。

2.如權利要求1所述的方法，其中，估計步驟(130)包括：

-根據磁場(B^d)的測量(B^d(t_j))識別稱為最小磁場的磁場和稱為最大磁場的磁場的子步驟；和

-根據識別的最小磁場和最大磁場以及表示磁力計(M)相對于磁性物體(2)的位置的幾何參數(r，z；d)來計算角度偏差的子步驟，

其中，角度偏差根據以下等式來計算：

其中，d是磁力計和磁性物體之間的距離，z和r是磁力計分別沿與參考軸(A_ref)平行的軸(e_z)和與參考軸(A_ref)正交的軸(e_r)相對于磁性物體的坐標，并且其中，a是預定系數。

3.如權利要求2所述的方法，其中，在識別子步驟期間，最小磁場和最大磁場分別根據磁場(B^d)的測量(B^d(t_j))的范數(‖B^d(t_j)‖)的最小值和最大值來識別。

4.如權利要求2所述的方法，其中，所述幾何參數(r，z；d)是在通過參考軸(A_ref)并且包含磁力計(M)的平面中磁力計(M)相對于磁性物體(2)的坐標(r，z)和距離(d)。

5.如權利要求2所述的方法，其中角度偏差根據系數(CV)和所述幾何參數(r，z；d)來計算，該系數(CV)等于由最小磁場和最大磁場之差形成的矢量的范數與由最小磁場和最大磁場之和形成的矢量的范數的比率。

6.如權利要求1所述的方法，其中，在旋轉步驟期間，磁性物體(2)圍繞參考軸(A_ref)完成至少一次旋轉。

7.如權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個磁力計(M)包括用于檢測磁場的至少三個軸，所述檢測軸彼此不平行。

8.如權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個磁力計(M)是單個三軸磁力計。

9.如權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個磁力計(M)位于參考軸(A_ref)的外側或位于穿過磁性物體的、參考軸(A_ref)的垂直線的外側。

10.如權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個磁力計(M)相對于所述磁性物體沿著與參考軸(A_ref)平行的軸(e_z)定位在坐標z處并且沿著與參考軸(A_ref)正交的軸(e_r)定位在坐標r處，使得坐標z大于或等于坐標r。