[發明專利]在現場圖像捕捉期間的欺騙攻擊檢測

在審

• 申請號: 201780054301.4
• 申請日: 2017-07-05
• 公開（公告）號: CN110023946A
• 公開（公告）日: 2019-07-16
• 發明（設計）人: 吳葉成;布賴恩·K·馬丁
• 申請（專利權）人: 吳業成;布賴恩·K·馬丁
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 畢錚;陳嵐

1.一種計算機實現的方法，所述方法包括：

由成像設備檢測待成像對象的存在；

由成像設備測量成像設備和待成像對象之間的距離；

由計算設備使用所測量的距離和成像設備的至少一個特征來確定待成像對象的特性；

由計算設備確定對象的特性是否超過閾值；以及

由計算設備指示待成像設備是否是欺騙對象和實際對象中的一個。

2.根據權利要求1所述的方法，其中待成像對象的所確定特性是對象的大小。

3.根據權利要求1所述的方法，其中成像設備的至少一個特征包括以下中的一個：

成像設備的透鏡的焦距，

成像設備的成像傳感器的大小，

成像傳感器的圖像像素分辨率，以及

以像素為單位的圖像的對象大小。

4.根據權利要求3所述的方法，其中確定待成像對象的特性包括使用由成像設備檢測到的圖像的寬度和成像傳感器的寬度。

5.根據權利要求4所述的方法，其中待成像對象是人類臉部，并且基于人類臉部的第一瞳孔和人類臉部的第二瞳孔之間的距離來測量成像設備和對象之間的距離。

6.根據權利要求5所述的方法，其中人類臉部的第一瞳孔和人類臉部的第二瞳孔之間的距離是與成像設備檢測到的圖像相關聯的以像素為單位的距離。

7.一種計算機實現的方法，包括：

由成像設備檢測待成像對象的存在；

由成像設備確定待成像對象的第一特性；

由成像設備確定待成像對象的第二特性；

由計算設備確定參數值是否超過閾值參數值，其中參數值指示第一特性或者第二特性；以及

響應于確定參數值是否超過閾值參數值，由計算設備指示待成像對象是欺騙對象或實際對象中的一個。

8.根據權利要求7所述的方法，其中參數值指示以下中的至少一個：

與針對待成像對象的圖像數據相關聯的像素數據的至少一個子集的特性；或

針對待成像對象的圖像數據的至少一個圖像區域的顏色屬性。

9.根據權利要求8所述的方法，其中確定參數值是否超過閾值參數值包括：

分析像素數據以確定一個或多個像素是否過飽和；

響應于確定一個或多個像素是否過飽和，計算確定為過飽和的像素的百分比；以及

基于確定為過飽和的像素的百分比來確定像素飽和度的量值。

10.根據權利要求8所述的方法，其中過飽和像素的較高百分比指示待成像對象是用于顯示欺騙圖像的電子設備的較高概率。

11.根據權利要求7所述的方法，其中待成像對象的第一特性是對象的眩光屬性、對象的反射屬性、或者眩光屬性及反射屬性。

12.根據權利要求8所述的方法，其中對象是具有顯示屏的電子設備，電子設備包括與對象的眩光屬性、對象的反射屬性或對象的邊框相關聯的可檢測特質。

13.根據權利要求7所述的方法，其中待成像對象的第二特性是對象的邊緣屬性、描繪對象的圖像的背景屬性、或者對象的邊緣屬性及描繪對象的圖像的背景屬性。