[發(fā)明專(zhuān)利]三維固態(tài)成像光電探測(cè)器在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780053544.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109642957A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | M·A·查波;D·B·麥克奈特 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01T1/20 | 分類(lèi)號(hào): | G01T1/20 |
| 代理公司: | 永新專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 72002 | 代理人: | 李光穎;王英 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國(guó)省代碼: | 荷蘭;NL |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 閃爍體 探測(cè)器像素 三維腔 活性區(qū)域 光子 光電探測(cè)器 面積最大化 探測(cè)器陣列 固態(tài)成像 垂直地 所述壁 取向 三維 鄰近 探測(cè) 穿過(guò) 發(fā)射 響應(yīng) 吸收 | ||
一種探測(cè)器陣列(112)包括探測(cè)器像素(206)。所述探測(cè)器像素包括三維腔(304和306;432和404),所述三維腔具有包括活性區(qū)域的壁(308/602和316;434和406/502),所述活性區(qū)域探測(cè)在所述三維腔內(nèi)穿過(guò)的可見(jiàn)光子并且產(chǎn)生指示其的相應(yīng)電信號(hào)。所述探測(cè)器像素還包括第一閃爍體(320;410),所述第一閃爍體被設(shè)置在所述三維腔中與至少一個(gè)探測(cè)器像素的底部(320;416)鄰近。所述探測(cè)器像素還包括第二閃爍體(326;444),所述第二閃爍體被設(shè)置在所述三維腔中在所述第一閃爍體的頂部,其中,第一閃爍體和第二閃爍體響應(yīng)于吸收X射線光子而發(fā)射所述可見(jiàn)光子。所述壁中的至少一個(gè)相對(duì)于探測(cè)器像素垂直地取向,從而使對(duì)應(yīng)的活性區(qū)域與第一閃爍體或者第二閃爍體中的一個(gè)之間的接觸面積最大化。
技術(shù)領(lǐng)域
以下總體上涉及一種成像探測(cè)器并且更具體地涉及一種三維(3D)固態(tài)成像光電探測(cè)器并且結(jié)合計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)(包括醫(yī)學(xué)和/或行李CT掃描器)來(lái)描述。然而,以下還適用于其他成像模態(tài)和/或成像應(yīng)用。
背景技術(shù)
計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)掃描器通常包括X射線管,所述X射線管被安裝在圍繞檢查區(qū)域關(guān)于z軸旋轉(zhuǎn)的可旋轉(zhuǎn)機(jī)架上。X射線管發(fā)射穿過(guò)檢查區(qū)域和被定位在其中的對(duì)象或者物體的輻射。X射線敏感輻射探測(cè)器陣列對(duì)著檢查區(qū)域與X射線管相對(duì)圍成一角弧,檢測(cè)穿過(guò)檢查區(qū)域的輻射,并且生成指示其的信號(hào)。重建器處理信號(hào)并且重建指示掃描期間檢查區(qū)域和其中的對(duì)象或物體的部分的體積圖像數(shù)據(jù)。
這樣的探測(cè)器陣列已經(jīng)包括晶體或者石榴石閃爍體,其直接地被安裝到平坦的固態(tài)光電探測(cè)器,諸如光電二極管。閃爍體材料響應(yīng)于利用X射線光子的轟擊而產(chǎn)生可見(jiàn)光子,所述可見(jiàn)光子然后被轉(zhuǎn)換為光電探測(cè)器中的電流或者脈沖。然而,光電探測(cè)器中的電荷載流子的收集的響應(yīng)時(shí)間和效率與現(xiàn)今的平坦X射線敏感輻射探測(cè)器陣列的幾何結(jié)構(gòu)以及響應(yīng)于光子而生成電荷載流子的閃爍體硅探測(cè)器之間的相互作用有關(guān)。
Chappo等人的US 2015/0276939A1(通過(guò)引用將其整體并入本文)描述了一種具有深度的第三維的X射線敏感輻射探測(cè)器陣列。該3D探測(cè)器陣列的幾何結(jié)構(gòu)改進(jìn)相對(duì)于二維(2D)平坦光電探測(cè)器的電荷收集效率。遺憾的是,電荷收集低效率導(dǎo)致患者利用不有助于圖像的電離輻射來(lái)輻照,并且電子輻射能夠引起對(duì)組織的損壞,這能夠?qū)е略S多健康問(wèn)題。這樣一來(lái),在電荷收集效率中還需要未解決的改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
本文所描述的方法解決上文提到的問(wèn)題和/或其他問(wèn)題。
在一個(gè)方面中,探測(cè)器陣列包括探測(cè)器像素。所述探測(cè)器像素包括具有包括活性區(qū)域的壁的三維腔,所述活性區(qū)域探測(cè)在所述三維腔內(nèi)穿過(guò)的可見(jiàn)光子并且產(chǎn)生指示其的相應(yīng)電信號(hào)。所述探測(cè)器像素還包括第一閃爍體,所述第一閃爍體被設(shè)置在所述三維腔中與至少一個(gè)探測(cè)器像素的底部鄰近。所述探測(cè)器像素還包括第二閃爍體,所述第二閃爍體被設(shè)置在所述三維腔中在所述第一閃爍體的頂部,其中,所述第一閃爍體和所述第二閃爍體響應(yīng)于吸收X射線光子而發(fā)射所述可見(jiàn)光子。所述壁中的至少一個(gè)相對(duì)于探測(cè)器像素被垂直取向,從而使對(duì)應(yīng)的活性區(qū)域與所述第一閃爍體或者所述第二閃爍體中的一個(gè)之間的接觸面積最大化。
在另一方面中,一種方法包括利用三維固態(tài)成像光電探測(cè)器的閃爍體接收X射線光子;利用所述閃爍體吸收所述X射線光子;并且利用所述閃爍體并且響應(yīng)于吸收所述X射線光子而產(chǎn)生指示所述X射線光子的能量的可見(jiàn)光子。所述方法還包括利用所述三維固態(tài)成像光電探測(cè)器的活性區(qū)域感測(cè)所述可見(jiàn)光子;并且利用活性區(qū)域并且響應(yīng)于探測(cè)到所述可見(jiàn)光子而產(chǎn)生指示所述X射線光子的能量的電信號(hào)。所述閃爍體與活性區(qū)之間的接觸面積最大化。
在另一方面中,一種成像系統(tǒng)包括:X射線源,其被配置為發(fā)射X射線;三維固態(tài)成像光電探測(cè)器,其被配置為探測(cè)X射線并且生成指示其的信號(hào);以及重建器,其被配置為對(duì)來(lái)自所述探測(cè)器的信號(hào)進(jìn)行重建。所述三維固態(tài)成像光電探測(cè)器包括第一閃爍體和第二閃爍體,所述第一閃爍體和所述第二閃爍體被設(shè)置在活性區(qū)的一個(gè)或多個(gè)凹槽中,使得第一閃爍體和第二閃爍體之一與活性區(qū)域的壁之間的接觸面積被最大化。
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