[發明專利]光子發射攻擊抗性驅動器電路

在審

• 申請號: 201780052966.1
• 申請日: 2017-08-30
• 公開（公告）號: CN109643712A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: S·K·馬修;S·K·薩特帕西;V·B·蘇瑞史;P·科貝爾
• 申請（專利權）人: 英特爾公司
• 主分類號: H01L27/092
• 分類號: H01L27/092;H01L21/04;H01L21/8238
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 錢慰民;黃嵩泉

一些實施例包括裝置，該裝置具有彼此相鄰地位于襯底中的擴散區域，以及耦合至擴散區域的連接端。擴散區域包括第一擴散區域、第二擴散區域和第三擴散區域。第二擴散區域中的一個和第三擴散區域中的一個位于第一擴散區域中的兩個之間。第一擴散區域中的一個和第三擴散區域中的一個位于第二擴散區域中的兩個之間。連接端包括耦合至第一擴散區域中的每一個的第一連接端、耦合至第二擴散區域中的每一個的第二連接端、以及耦合至第三擴散區域中的每一個的第三連接端。

優先權要求

本專利申請要求2016年9月27日提交的第15/277,195號美國專利申請的優先權的優先權，該申請通過引用整體結合于此。

技術領域

本文描述的實施例涉及針對電子設備和系統中的包括光子發射攻擊的邊通道攻擊的保護。一些實施例涉及此類設備和系統中的驅動器電路。

背景技術

許多電子系統和設備(諸如，集成電路(IC)芯片)在其工作時發射光子。對來自設備的光子發射的分析可能導致對包含在設備中或由設備使用的機密信息的重構。因此，如果設備或系統對光子發射攻擊具有不充分的保護，則會由此類光子發射攻擊危及設備或系統中的機密信息。

附圖說明

圖1示出根據本文描述的一些實施例的裝置，該裝置是包括功能單元以及功能單元之間的總線的設備的形式的。

圖2A示出根據本文所描述的一些實施例的包括反相器的驅動器電路的示意圖。

圖2B示出根據本文所描述的一些實施例的包括圖2A的反相器的晶體管的示意圖。

圖2C示出根據本文描述的一些實施例的包括圖2B的驅動器電路的擴散區域和柵極的俯視圖(例如，布局)。

圖2D示出根據本文描述的一些實施例的圖2C的驅動器電路的包括p溝道金屬氧化物半導體(PMOS)晶體管的部分的橫截面圖。

圖2E示出根據本文描述的一些實施例的圖2C的驅動器電路的包括n溝道金屬氧化物半導體(NMOS)晶體管的另一部分的橫截面圖。

圖3A示出根據本文所描述的一些實施例的另一驅動器電路的示意圖。

圖3B示出根據本文所描述的一些實施例的包括圖3A的驅動器電路的反相器的晶體管和虛設器件的示意圖。

圖3C、圖3D和圖3E示出根據本文描述的一些實施例的圖3B的驅動器電路的部分的俯視圖(例如，布局)和橫截面圖。

圖3F、圖3G和圖3H示出根據本文描述的一些實施例的圖3B的驅動器電路的另一部分的俯視圖(例如，布局)和橫截面圖。

圖4示出根據本文描述的一些實施例的系統(例如，電子系統)形式的裝置。

具體實施方式

本文描述的技術包括幫助保護設備(例如，IC芯片)或系統(例如，芯片上系統(SoC))免受光子發射攻擊的方式。當機密信息在設備的內部組件之間的導電路徑(例如，總線)上傳輸時，來自設備或系統的光子發射可以是可能泄漏此類信息(例如，加密/解密密鑰)的顯著的邊通道。這種邊通道泄漏可被光子發射攻擊利用。此類攻擊可涉及使用光子傳感器來監視設備的總線上的一部分上的光子發射達大量(例如，數百萬個)周期。通過分析監視到的光子發射，可重構通過總線傳送的機密信息的值，從而危及設備中任何加密信息的安全性和機密性。