[發明專利]基于曲率的臉部檢測器有效
| 申請號: | 201780052630.5 | 申請日: | 2017-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN109690555B | 公開(公告)日: | 2023-02-07 |
| 發明(設計)人: | Y·愛賽特 | 申請(專利權)人: | 蘋果公司 |
| 主分類號: | G06F18/00 | 分類號: | G06F18/00 |
| 代理公司: | 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 宿小猛 |
| 地址: | 美國加*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 曲率 臉部 檢測器 | ||
1.一種用于處理數據的方法,包括:
接收包含至少人形頭部的場景的深度圖,所述深度圖包括具有相應像素深度值的像素的矩陣;
利用數字處理器通過將形狀算子應用于像素深度值并且查找所述形狀算子的與所述矩陣中所述像素的相應曲率取向和曲率值對應的本征向量和本征值來從所述深度圖計算所述場景的曲率圖;以及
處理所述曲率值以便:檢測和劃分所述曲率圖中的一個或多個斑塊,在所述一個或多個斑塊上,所述像素具有指示凸形表面的相應曲率值;對應于與所述一個或多個斑塊中的每一者中像素的曲率取向的主方向垂直的軸線計算所述一個或多個斑塊中的每一者的滾轉角;以及通過將臉部分類器濾波應用于所述一個或多個斑塊、同時利用所計算的滾轉角對所述一個或多個斑塊和所述濾波之間的旋轉進行歸一化,來將斑塊中的一者標識為所述場景中的臉部。
2.根據權利要求1所述的方法,其中處理曲率值包括在對于所計算的滾轉角進行校正時對所述曲率圖應用曲率濾波以便探知所述斑塊中的所述一者是否為所述臉部。
3.根據權利要求1所述的方法,其中處理曲率值包括響應于所述斑塊中的所述一者的尺寸來計算所述臉部的規模,以及在對于所計算的規模進行校正時對所述曲率圖應用曲率濾波以便探知所述斑塊中的所述一者是否為所述臉部。
4.根據權利要求1所述的方法,其中計算曲率圖包括以第一分辨率通過將形狀算子應用于像素深度值從所述深度圖推導第一曲率圖,并且其中檢測一個或多個斑塊包括在所述第一曲率圖中查找所述一個或多個斑塊,并且
其中處理曲率值包括以比所述第一分辨率精細的第二分辨率通過將形狀算子應用于像素深度值推導包含所述斑塊中的所述一者的第二曲率圖,以及利用所述第二曲率圖來標識所述臉部。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法,其中應用臉部分類器濾波包括以曲率濾波核對所述曲率圖進行卷積以便查找所述場景中所述臉部的位置。
6.根據權利要求5所述的方法,其中對所述曲率圖進行卷積包括分別應用臉部濾波核和鼻部濾波核以便計算所述臉部的相應候選位置,以及基于候選位置查找所述位置。
7.根據權利要求5所述的方法,其中對所述曲率圖進行卷積包括計算所述場景中的多個點中每一者的對數似然值,以及響應于所述對數似然值來選擇所述位置。
8.一種用于處理數據的裝置,包括:
成像組件,所述成像組件被配置為捕獲包含至少人形頭部的場景的深度圖,所述深度圖包括具有相應像素深度值的像素的矩陣;和
處理器,所述處理器被配置為通過將形狀算子應用于像素深度值并且查找所述形狀算子的與所述矩陣中所述像素的相應曲率取向和曲率值對應的本征向量和本征值來從所述深度圖計算所述場景的曲率圖,以及處理所述曲率值以便:檢測和劃分所述曲率圖中的一個或多個斑塊,在所述一個或多個斑塊上,所述像素具有指示凸形表面的相應曲率值;對應于與所述一個或多個斑塊中的每一者中像素的曲率取向的主方向垂直的軸線計算所述一個或多個斑塊中的每一者的滾轉角;以及通過將臉部分類器濾波應用于所述一個或多個斑塊、同時利用所計算的滾轉角對所述一個或多個斑塊和所述濾波之間的旋轉進行歸一化,來將斑塊中的一者標識為所述場景中的臉部。
9.根據權利要求8所述的裝置,其中處理曲率值包括在對于所計算的滾轉角進行校正時對所述曲率圖應用曲率濾波以便探知所述斑塊中的所述一者是否為所述臉部。
10.根據權利要求8所述的裝置,其中處理曲率值包括響應于所述斑塊中的所述一者的尺寸來計算所述臉部的規模,以及在對于所計算的規模進行校正時對所述曲率圖應用曲率濾波以便探知所述斑塊中的所述一者是否為所述臉部。
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