[發明專利]時間溫度傳感器位置偏移誤差校正

有效

• 申請號: 201780052485.0
• 申請日: 2017-08-15
• 公開（公告）號: CN109642829B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發明（設計）人: A·A·麥瑞克;M·圣-勞倫特;M·卡西馬薩爾;R·錢德拉;M·阿拉姆
• 申請（專利權）人: 高通股份有限公司
• 主分類號: G01K7/42
• 分類號: G01K7/42;G06F1/20
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 楊林勳

1.一種校正裸片上的熱傳感器測量值的方法，其包括：

從傳感器接收區的溫度測量值；

測量所述區的活動，所測量的活動包括流動于包含所述裸片的裝置中的電流或包含所述裸片的所述裝置的性能，所述性能至少部分基于確定高速緩存未命中的數量或管線暫停的數量；

將所測量的活動轉化為所述區的功率；

通過參考所存儲的熱量模型參數來解釋所述區的所述功率或所述活動來導出溫度偏移；以及

至少部分地基于所述溫度偏移調節所述溫度測量值。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述所存儲的熱量模型參數包含與溫度差匹配的所估計的功率。

3.根據權利要求1所述的方法，其中所述所存儲的熱量模型參數包含與絕對溫度匹配的所估計的功率。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述所測量的活動包括電流流動穿過電源開關。

5.根據權利要求1所述的方法，其中所述所測量的活動包括至少部分地基于所述裸片的所述裝置的所述性能。

6.根據權利要求5所述的方法，其中所述性能的測量值是至少部分地基于性能計數器確定的。

7.根據權利要求1所述的方法，其中所述活動的測量以及所述區所消耗的功率轉換是通過數字功率監測器/計量器執行的。

8.一種用于校正裸片上的熱傳感器測量值的設備，其包括：

用于從傳感器接收區的溫度測量值的裝置；

用于測量所述區的活動的裝置，所測量的活動包括流動于包含所述裸片的裝置中的電流或包含所述裸片的所述裝置的性能，所述性能至少部分基于確定高速緩存未命中的數量或管線暫停的數量；

用于將所測量的活動轉化為所述區的功率的裝置；

用于通過參考所存儲的熱量模型參數來解釋所述區的所述功率或所述活動來導出溫度偏移的裝置；以及

用于至少部分地基于所述溫度偏移調節所述溫度測量值的裝置。

9.根據權利要求8所述的設備，其中所述所存儲的熱量模型參數包含與溫度差匹配的所估計的功率。

10.根據權利要求8所述的設備，其中所述所存儲的熱量模型參數包含與絕對溫度匹配的所估計的功率。

11.根據權利要求8所述的設備，其中所述所測量的活動包括電流流動穿過電源開關或至少部分地基于所述裸片的所述裝置的性能。

12.一種用于校正裸片上的熱傳感器測量值的設備，其包括：

存儲器；以及

至少一個處理器，其耦合到所述存儲器，所述至少一個處理器經配置以：

從傳感器接收區的溫度測量值；

測量所述區的活動，所測量的活動包括流動于包含所述裸片的裝置中的電流或包含所述裸片的所述裝置的性能，所述性能至少部分基于確定高速緩存未命中的數量或管線暫停的數量；

將所測量的活動轉化為所述區的功率；

通過參考所存儲的熱量模型參數來解釋所述區的所述功率或所述活動來導出溫度偏移；以及

至少部分地基于所述溫度偏移調節所述溫度測量值。

13.根據權利要求12所述的設備，其中所述所存儲的熱量模型參數包含與溫度差匹配的所估計的功率。

14.根據權利要求12所述的設備，其中所述所存儲的熱量模型參數包含與絕對溫度匹配的所估計的功率。

15.根據權利要求12所述的設備，其中所述所測量的活動包括電流流動穿過電源開關。

16.根據權利要求12所述的設備，其中所述所測量的活動包括至少部分地基于所述裸片的所述裝置的所述性能。