[發明專利]基于力形狀確定有效觸摸

有效

• 申請號: 201780051963.6
• 申請日: 2017-08-25
• 公開（公告）號: CN109844697B
• 公開（公告）日: 2022-12-23
• 發明（設計）人: 維克多·德雷克;杰弗里·塔克;湯姆·本特森;馬爾欽·洛布勞;加里·斯特林;瞿明;陸景平
• 申請（專利權）人: 譜瑞科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 陸建萍;楊明釗

1.一種檢測在觸摸感測表面上的觸摸事件的方法，所述觸摸感測表面耦合到包括多個感測電極的電容感測陣列，所述方法包括：

在耦合到所述電容感測陣列和多個力電極的處理設備處：

從所述電容感測陣列的多個感測電極獲得多個電容感測信號；

根據所述多個電容感測信號，確定在所述觸摸感測表面上的一個或更多個候選觸摸；

基于所述一個或更多個候選觸摸來確定預期力值矩陣，在所述預期力值矩陣中的每個預期力值對應于所述多個力電極中的相應的電極；

從所述多個力電極獲得多個力信號；

根據所述多個力信號，確定由所述一個或更多個候選觸摸在所述觸摸感測表面上引起的實際力值矩陣,在所述實際力值矩陣中的每個實際力值對應于所述多個力電極中的相應的電極；以及

比較所述實際力值矩陣和所述預期力值矩陣以確定與所述一個或更多個候選觸摸中的每一個相關聯的力的大小，包括確定所述一個或更多個候選觸摸中的每一個是否是有效觸摸；

其中，所述預期力值矩陣與所述實際力值矩陣具有根據所述多個力電極確定的相同大小。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述預期力值矩陣包括與施加在所述多個力電極上的力相關聯的預期力值的陣列。

3.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述預期力值矩陣基于多個力權重因子來組合多個計算出的力值矩陣；

所述多個計算出的力值矩陣中的每一個表示所述一個或更多個候選觸摸中的一個；

所述多個計算出的力值矩陣中的每一個與所述多個力權重因子中的一個相關聯；以及

每個力權重因子表示與所述一個或更多個候選觸摸之一相關聯的力的大小。

4.根據權利要求3所述的方法，其中比較所述實際力值矩陣和所述預期力值矩陣還包括：

根據所述實際力值矩陣和所述預期力值矩陣計算誤差向量；以及

調整所述多個力權重因子以最小化所述誤差向量的大小或將所述誤差向量的大小降低到小于誤差閾值。

5.根據權利要求3所述的方法，其中所述多個計算出的力值矩陣中的每一個基于校準表來被計算，并且所述校準表包括多個經校準的力值矩陣，每個經校準的力值矩陣表示分布在所述觸摸感測表面上的多個預定校準采樣點中的相應的一個。

6.根據權利要求5所述的方法，其中所述多個計算出的力值矩陣中的每一個組合所述多個經校準的力值矩陣的子集，所述子集對應于圍繞相應候選觸摸的預定校準采樣點的子集。

7.根據權利要求6所述的方法，其中基于在第一觸摸和所述預定校準采樣點之間的距離來組合所述多個經校準的力值矩陣的所述子集。

8.根據權利要求3所述的方法，其中第一候選觸摸與第一預定校準采樣點匹配，并且對應于所述第一候選觸摸的計算出的力值矩陣由對應于所述第一預定校準采樣點的計算出的力值矩陣表示。

9.根據權利要求1所述的方法，其中分布在所述觸摸感測表面上的多個預定校準采樣點具有與所述多個力電極的分辨率不同的分辨率。

10.根據權利要求1所述的方法，其中所述一個或更多個候選觸摸中的每一個是否是有效觸摸的所述確定還包括：

識別所述一個或更多個候選觸摸中的被除了觸摸事件之外的不需要的因素影響的一個候選觸摸，并且確定所述一個或更多個候選觸摸中的所述一個候選觸摸不是與有效觸摸相關聯的，其中所述不需要的因素包括下列項中的至少一項：布置在所述觸摸感測表面上的水滴、共模噪聲以及觸筆或導電無源物體的懸停。

11.根據權利要求1所述的方法，其中所述一個或更多個候選觸摸包括第一觸摸，并且所述一個或更多個候選觸摸中的每一個是否是有效觸摸的所述確定還包括：

根據在所述預期力值矩陣和所述實際力值矩陣之間的比較，確定所述第一觸摸不是有效觸摸。