[發(fā)明專利]具有故障檢測(cè)的糾錯(cuò)硬件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780051527.9 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109643262B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-08-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | S·賈蘭;I·珀若撒盼;A·G·卡基斯瓦爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 德克薩斯儀器股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/16 | 分類號(hào): | G06F11/16;G11C29/42;B60W30/00 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐東升;趙蓉民 |
| 地址: | 美國(guó)德*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 故障 檢測(cè) 糾錯(cuò) 硬件 | ||
1.一種用于單端口存儲(chǔ)器電路的糾錯(cuò)碼硬件即ECC硬件,包括:
寫(xiě)入路徑電路,其包括寫(xiě)入生成ECC邏輯即寫(xiě)入Gen?ECC邏輯,所述寫(xiě)入Gen?ECC邏輯用于從寫(xiě)入數(shù)據(jù)生成第一ECC位并且用于將所述第一ECC位和所述寫(xiě)入數(shù)據(jù)寫(xiě)入所述存儲(chǔ)器電路;
讀取路徑電路,其包括檢查ECC塊,所述檢查ECC塊用于耦合來(lái)自所述存儲(chǔ)器電路的讀取數(shù)據(jù),所述檢查ECC塊包括耦合到XOR電路的讀取Gen?ECC邏輯,所述讀取Gen?ECC邏輯具有用于耦合到所述存儲(chǔ)器電路的ECC輸出的輸入,其中所述XOR電路的輸出將校正子信號(hào)提供到校正子解碼塊,所述校正子解碼塊耦合到單個(gè)位糾錯(cuò)塊即SEC塊并且用于生成多位錯(cuò)誤檢測(cè)中斷信號(hào)即MED中斷信號(hào);
第一多路復(fù)用器即第一MUX或第二MUX,所述第一MUX具有用于接收所述寫(xiě)入數(shù)據(jù)的第一輸入并與所述寫(xiě)入ECC生成邏輯的輸入串聯(lián),所述第二MUX具有用于從所述存儲(chǔ)器電路接收所述讀取數(shù)據(jù)的第一輸入并與所述讀取Gen?ECC邏輯的輸入串聯(lián);
交叉耦合連接器,其用于將來(lái)自所述存儲(chǔ)器電路的所述讀取數(shù)據(jù)耦合到所述第一MUX的第二輸入,或者交叉耦合連接器,其用于將所述寫(xiě)入數(shù)據(jù)耦合到所述第二MUX的第二輸入,以及
ECC位比較器,其用于將所述寫(xiě)入Gen?ECC邏輯的輸出與所述讀取Gen?ECC邏輯的輸出進(jìn)行比較。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ECC硬件,其中所述比較器的輸出經(jīng)耦合作為所述校正子解碼塊的使能輸入并且作為所述SEC塊的使能輸入。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ECC硬件,其中所述ECC硬件和所述單端口存儲(chǔ)器電路形成在至少具有半導(dǎo)體表面的公共襯底上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ECC硬件,其中所述ECC硬件包括所述第一MUX和所述第二MUX。
5.一種用于單端口存儲(chǔ)器電路的糾錯(cuò)碼硬件即ECC硬件,包括:
寫(xiě)入路徑電路,其包括寫(xiě)入生成ECC邏輯即寫(xiě)入Gen?ECC邏輯,所述寫(xiě)入Gen?ECC邏輯用于從寫(xiě)入數(shù)據(jù)生成第一ECC位并且用于將所述第一ECC位和所述寫(xiě)入數(shù)據(jù)寫(xiě)入所述存儲(chǔ)器電路;
讀取路徑電路,其包括檢查ECC塊,所述檢查ECC塊用于耦合來(lái)自所述存儲(chǔ)器電路的讀取數(shù)據(jù),所述檢查ECC塊包括耦合到XOR電路的讀取Gen?ECC邏輯,所述讀取Gen?ECC邏輯具有用于耦合到所述存儲(chǔ)器電路的ECC輸出的輸入,其中所述XOR電路的輸出將校正子信號(hào)提供到校正子解碼塊,所述校正子解碼塊耦合到單個(gè)位糾錯(cuò)塊即SEC塊并且用于生成多位錯(cuò)誤檢測(cè)中斷信號(hào)即MED中斷信號(hào);
第一多路復(fù)用器即第一MUX和第二MUX,所述第一MUX具有用于接收所述寫(xiě)入數(shù)據(jù)的第一輸入并與所述寫(xiě)入ECC生成邏輯的輸入串聯(lián),所述第二MUX具有用于從所述存儲(chǔ)器電路接收所述讀取數(shù)據(jù)的第一輸入并與所述讀取Gen?ECC邏輯的輸入串聯(lián);
交叉耦合連接器,其用于將來(lái)自所述存儲(chǔ)器電路的所述讀取數(shù)據(jù)耦合到所述第一MUX的第二輸入,以及交叉耦合連接器,其用于將所述寫(xiě)入數(shù)據(jù)耦合到所述第二MUX的第二輸入;
ECC位比較器,其用于將接收的所述寫(xiě)入Gen?ECC邏輯的輸出與所述讀取Gen?ECC邏輯的輸出進(jìn)行比較。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的ECC硬件,其中所述比較器的輸出經(jīng)耦合作為所述校正子解碼塊的使能輸入并且作為所述SEC塊的使能輸入。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的ECC硬件,其中所述ECC硬件和所述單端口存儲(chǔ)器電路形成在至少具有半導(dǎo)體表面的公共襯底上。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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