[發明專利]半導體裝置

有效

• 申請號: 201780051519.4
• 申請日: 2017-08-08
• 公開（公告）號: CN109661763B
• 公開（公告）日: 2021-01-01
• 發明（設計）人: 加藤良隆;小宮健治;進藤祐輔;林慶德;若林健一
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝
• 主分類號: H02M1/08
• 分類號: H02M1/08
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 呂文卓

1.一種半導體裝置，對功率開關元件(410)的通斷進行控制，上述功率開關元件具有柵極端子，通過向上述柵極端子施加柵極電壓而在輸出端子間流過輸出電流，其特征在于，

具備：

輸出電流檢測部(130)，檢測與上述輸出電流相關的電流值；

電壓檢測部(140)，檢測上述功率開關元件的輸出端子間電壓、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓；

鉗位電路(120)，將上述柵極電壓鉗位為規定的值；以及

控制部，基于由上述電壓檢測部檢測到的檢測電壓，控制上述鉗位電路而調整上述柵極電壓；

上述控制部對應于上述檢測電壓來控制上述鉗位電路，以使得：在上述功率開關元件短路時流過的上述輸出電流超過用于檢測上述功率開關元件的短路的閾值電流，并且上述柵極電壓成為為了使在上述短路時流過的上述輸出電流超過上述閾值電流而需要的最低限度的電壓。

2.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

上述控制部，對應于上述功率開關元件的輸出端子間電壓、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓，連續地決定上述柵極電壓。

3.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

上述控制部，對應于上述功率開關元件的輸出端子間電壓、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓，離散地決定上述柵極電壓。

4.如權利要求3所述的半導體裝置，其特征在于，

上述控制部，對應于被等分的上述功率開關元件的輸出端子間電壓、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓，決定上述柵極電壓。

5.如權利要求3所述的半導體裝置，其特征在于，

上述控制部，對應于隨著上述檢測電壓的提高而被細分的上述功率開關元件的輸出端子間電壓、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓，決定上述柵極電壓。

6.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

上述功率開關元件是包括寬禁帶寬度半導體的元件。

7.如權利要求1～6中任一項所述的半導體裝置，其特征在于，

上述鉗位電路具有運算放大器(121)、MOS晶體管(122)、以及生成參照電壓的可變電源(123)；

上述功率開關元件的柵極端子與上述運算放大器的非反相輸入端子連接；

上述MOS晶體管的漏極端子與上述運算放大器的非反相輸入端子連接，并且與上述功率開關元件的柵極端子連接；

上述MOS晶體管的源極端子與被設為比上述柵極電壓低的電壓的基準電位連接；

上述運算放大器的反相輸入端子連接著上述可變電源而被設為上述參照電壓；

上述控制部通過決定上述參照電壓而調整上述柵極電壓。

8.如權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于，

上述為了使在上述短路時流過的上述輸出電流超過上述閾值電流而需要的最低限度的電壓被設定為上述柵極電壓，以檢測上述功率開關元件的短路。

9.如權利要求4所述的半導體裝置，其特征在于，

上述輸出端子間電壓的范圍、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓的范圍被等分。

10.如權利要求5所述的半導體裝置，其特征在于，

上述輸出端子間電壓的范圍、或者與上述輸出端子間電壓相關的電壓的范圍隨著上述檢測電壓的提高而被細分。