[發明專利]用于使用參考信號內插的窄帶測距系統的方法和裝置

有效

• 申請號: 201780050480.4
• 申請日: 2017-07-13
• 公開（公告）號: CN109564281B
• 公開（公告）日: 2023-08-22
• 發明（設計）人: N·C·沃克;D·P·麥吉
• 申請（專利權）人: 德克薩斯儀器股份有限公司
• 主分類號: G01S13/08
• 分類號: G01S13/08;G01S7/40
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 趙志剛;趙蓉民

1.一種用于測距的方法，所述方法包括：

接收具有頻率的參考信號的第一采樣和第二采樣，所述參考信號表示第一信號；

在不同相位偏移生成具有所述頻率的重構的參考信號，包括通過在所述第一采樣和所述第二采樣之間進行內插；

接收從物體反射的第二信號，其中從所述物體反射的所述第二信號包括從所述物體反射的所述第一信號的反射，并且所述第一采樣和所述第二采樣表示沒有所述物體的反射的所述參考信號；

通過將所述重構的參考信號與所述從所述物體反射的所述第二信號相關生成相關；

基于所述相關的最高峰值或所述相關的最高的峰值與旁瓣比率中的至少一個來選擇相位；以及

基于所選擇的相位確定所述物體的距離。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，從換能器發射所述第一信號。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述相關包括各自的峰值和各自的旁瓣值。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述相關對應于所述不同相位偏移。

5.根據權利要求1所述的方法，還包括基于所述選擇的相位確定延遲，所述延遲對應于所述距離。

6.根據權利要求5所述的方法，還包括在所述最高峰值周圍執行曲線擬合操作以確定所述最高峰值的精細估計，所述最高峰值對應于所述延遲。

7.一種用于測距的裝置，所述裝置包括：

內插器，其具有輸出，所述內插器被構造為：接收具有頻率的參考信號的第一采樣和第二采樣，所述參考信號表示第一信號；在不同相位偏移生成具有所述頻率的重構的參考信號，包括通過在所述第一采樣和所述第二采樣之間進行內插；并且在所述內插器的輸出處提供所述重構的參考信號；

相關器，其具有耦合到所述內插器的輸出的輸入，所述相關器具有輸出并且所述相關器被構造為：接收從物體反射的第二信號，其中從所述物體反射的所述第二信號包括從所述物體反射的所述第一信號的反射，并且所述第一采樣和所述第二采樣表示沒有所述物體的反射的所述參考信號；通過將所述重構的參考信號與從所述物體反射的所述第二信號相關來生成相關；并且在所述相關器的輸出處提供所述相關；以及

相位選擇器，其具有耦合到所述相關器的輸出的輸入，所述相位選擇器具有輸出并且所述相位選擇器被構造為：基于所述相關的最高峰值或所述相關的最高的峰值與旁瓣比率中的至少一個來選擇相位，基于所選擇的相位確定所述物體的距離；并且在所述相位選擇器的輸出處提供所述距離。

8.根據權利要求7所述的裝置，還包括換能器，其用于發射所述第一信號。

9.根據權利要求7所述的裝置，其中，所述相關包括各自的峰值和各自的旁瓣值。

10.根據權利要求9所述的裝置，其中，所述相關對應于所述不同相位偏移。

11.根據權利要求7所述的裝置，其中，所述相位選擇器被構造成基于所述選擇的相位確定延遲，所述延遲對應于所述距離。

12.根據權利要求11所述的裝置，其中，所述相位選擇器被構造成在所述最高峰值周圍執行曲線擬合操作，以確定所述最高峰值的精細估計，所述最高峰值對應于所述延遲。