[發明專利]帶空隙校正的導電率傳感器

有效

• 申請號: 201780049820.1
• 申請日: 2017-08-17
• 公開（公告）號: CN109564179B
• 公開（公告）日: 2021-08-06
• 發明（設計）人: M·R·戈德弗雷;E·托克圖夫;J·埃里克森
• 申請（專利權）人: 埃科萊布美國股份有限公司
• 主分類號: G01N27/02
• 分類號: G01N27/02;G01N27/08;G01N27/22;G01N27/07
• 代理公司: 北京世峰知識產權代理有限公司 11713
• 代理人: 卓霖;許向彤

1.一種用于測量流體的導電率的系統，其包括：

導電率傳感器，其用于測量流體樣本的至少第一部分的導電率；

第一電容電極；

第二電容電極；

控制器，其被配置為

確定來自所述導電率傳感器的測量到的導電率；

確定所述第一電容電極和所述第二電容電極之間的測量到的電容；以及

基于所述測量到的電容和所述測量到的導電率確定經校正的導電率測量值；其中，

所述第一電容電極和所述第二電容電極被定位為使得所述第一電容電極和所述第二電容電極之間的所述電容受到所述流體樣本的所述第一部分的影響；

傳感器組合件，所述傳感器組合件包括：

所述第一電容電極和所述第二電容電極；

環形殼體，其具有內表面和外表面，所述內表面限定在流體流過所述傳感器的方向上延伸的孔；并且

其中所述導電率傳感器包括：

第一線圈，其定位于所述環形殼體中，所述第一線圈圍繞所述環形殼體的所述內表面；以及

第二線圈，其定位于所述環形殼體中和所述第一線圈的下游，所述第二線圈圍繞所述環形殼體的所述內表面；其中

所述流體樣本的所述第一部分包括流過所述環形殼體的所述孔的流體，使得所述第一線圈和所述第二線圈能夠用于確定所述流體樣本的所述第一部分的所述導電率；以及

所述第一電容電極和所述第二電容電極被配置為測量受流過所述環形殼體的所述內表面的所述流體影響的電容，

其中所述第一電容電極的至少一部分和所述第二電容電極的至少一部分定位于所述環形殼體的所述內表面與所述第一線圈和所述第二線圈中的至少一個之間。

2.根據權利要求1所述的系統，其中所述第一電容電極和所述第二電容電極定位于所述環形殼體中，使得所述第一電容電極定位于所述環形殼體的所述內表面的第一側上，并且所述第二電容電極定位于所述環形殼體的所述內表面的第二側上，所述第二側與所述第一側相對。

3.根據權利要求1或2所述的系統，其還包括凸緣和附接構件，所述附接構件將所述環形殼體固定到所述凸緣，使得所述凸緣能夠固定到含有所述流體樣本的流體貯存器并且所述環形殼體設置在所述流體樣本中。

4.根據權利要求3所述的系統，其中所述凸緣被配置為用于將所述環形殼體固定到T形管。

5.根據權利要求1或2所述的系統，其中所述環形殼體包括：

非導電管，其限定所述環形殼體的所述內表面；

第一凸緣，其定位于所述非導電管的第一側；以及

第二凸緣，其定位于所述非導電管的第二側，所述第二側與所述第一側相對；其中

所述第一凸緣和所述第二凸緣被配置為與流體流動系統中的流體流動容器對接；以及

當所述第一凸緣和所述第二凸緣與相應的流體流動容器對接時，所述環形殼體和所述流體流動容器形成穿過其中的連續流體流動路徑。

6.根據權利要求1或2所述的系統，其中所述環形殼體的外表面的一部分包括導電材料。

7.根據權利要求5所述的系統，其中由所述非導電管限定的所述環形殼體的所述內表面的直徑與所述流體流動容器的內徑相同，使得所述系統不會阻礙流體通過所述系統的所述流動。

8.根據權利要求1或2所述的系統，其中所述導電率傳感器測量所述流體樣本的所述第一部分的所述導電率，并且第一電容傳感器和第二電容傳感器同時測量受所述流體樣本的所述第一部分影響的電容。

9.根據權利要求1或2所述的系統，其還包括與所述控制器通信的用戶界面，其中：

用戶能夠通過所述用戶界面選擇所述流體樣本的至少一種成分；以及

基于所述測量到的電容確定所述經校正的導電率測量值還基于所選擇的所述流體樣本的至少一種成分。

10.根據權利要求1或2所述的系統，其還包括與所述控制器通信的溫度傳感器，并且其中確定所述經校正的導電率測量值還基于流過所述系統的所述流體的測量到的溫度。

11.一種根據前述權利要求中任一項所述的系統用于測量流體樣本的導電率的用途。