[發(fā)明專利]在成像系統(tǒng)中控制透鏡失準

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201780048108.X
• 申請日: 2017-06-22
• 公開（公告）號: CN109565532B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: D·J·費題格;G·A·阿干諾夫;G·羅森布拉姆
• 申請（專利權(quán)）人: 蘋果公司
• 主分類號: H04N5/217
• 分類號: H04N5/217;H04N17/00;H01L27/146;H04N5/357;H04N5/369
• 代理公司: 中國貿(mào)促會專利商標事務(wù)所有限公司 11038
• 代理人: 宿小猛

1.一種用于成像的方法，包括：

使用成像系統(tǒng)對場景成像，所述成像系統(tǒng)包括輻射感測元件的陣列和被配置為將來自所述場景的輻射聚焦到所述陣列上的光學(xué)器件，所述輻射感測元件的陣列包括具有對稱角響應(yīng)的第一感測元件和散布于所述第一感測元件之中、具有非對稱角響應(yīng)的第二感測元件；

處理由所述第一感測元件輸出的第一信號，以便識別所述陣列上均勻輻照度的一個或多個區(qū)域；以及

處理由位于所識別區(qū)域中的所述第二感測元件輸出的第二信號，以便監(jiān)測所述光學(xué)器件相對于所述陣列的橫向偏移，

其中所述第二感測元件包括具有不同相應(yīng)非對稱角度的不同組的第二感測元件，并且其中監(jiān)測所述橫向偏移包括比較所述不同組輸出的第二信號，以便評估所述橫向偏移的方向。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述第二感測元件包括：

光敏區(qū)，所述光敏區(qū)形成于襯底中；

微鏡頭，所述微鏡頭設(shè)置于所述光敏區(qū)上方；和

不透明屏蔽件，所述不透明屏蔽件置于所述襯底和所述微鏡頭之間、部分地覆蓋所述光敏區(qū)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述第二感測元件包括：

至少一個光敏區(qū)，所述至少一個光敏區(qū)形成于襯底中；和

微鏡頭，所述微鏡頭設(shè)置于光敏區(qū)上方，

其中所述至少一個光敏區(qū)相對于通過所述微鏡頭指向所述感測元件的主光線是偏移的。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中處理所述第二信號包括監(jiān)測所述光學(xué)器件相對于所述陣列的傾斜度。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中處理所述第二信號包括評估所述光學(xué)器件的主光線與所述陣列相交的角度。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中處理所述第二信號包括基于所述第二信號校準所述成像系統(tǒng)的對準。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中處理所述第二信號包括基于所述第二信號驗證所述成像系統(tǒng)已被組裝到預(yù)先確定的公差之內(nèi)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中監(jiān)測所述橫向偏移包括：

通過使所述第二信號相對于所述所識別區(qū)域中的所述第一感測元件輸出的所述第一信號規(guī)格化來計算所述所識別區(qū)域中的所述第二感測元件的增益；

評估所計算增益與所存儲增益的偏差；以及

基于所述偏差來估計所述橫向偏移。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中處理所述第二信號包括：

存儲針對多個類型的失準的相應(yīng)增益圖；

通過使所述第二信號相對于所述所識別區(qū)域中的所述第一感測元件輸出的所述第一信號規(guī)格化來計算所述所識別區(qū)域中的所述第二感測元件的增益；以及

將所計算的增益與所存儲的增益圖進行比較，以便識別所述失準的類型和量值。

10.一種成像系統(tǒng)，包括：

輻射感測元件的陣列，包括：

具有對稱角響應(yīng)的第一感測元件，所述第一感測元件被配置為輸出第一信號；和

具有非對稱角響應(yīng)的第二感測元件，所述第二感測元件散布于所述第一感測元件之中并被配置為輸出第二信號；

光學(xué)器件，所述光學(xué)器件被配置為將來自場景的輻射聚焦到所述陣列上；和

控制電路，所述控制電路被耦接到所述陣列并被配置為處理所述第一信號，以便識別所述陣列上均勻輻照度的一個或多個區(qū)域，并處理位于所識別區(qū)域中的所述第二感測元件輸出的第二信號，以便檢測所述光學(xué)器件與所述陣列的失準，

其中由所述控制電路檢測的所述失準包括所述光學(xué)器件相對于所述陣列的橫向偏移，并且

其中所述第二感測元件包括具有不同相應(yīng)非對稱角度的不同組的第二感測元件，并且

其中所述控制電路被配置為比較由所述不同組輸出的第二信號，以便評估所述橫向偏移的方向。