[發明專利]運動校正的壓縮感知磁共振成像

有效

• 申請號: 201780045151.0
• 申請日: 2017-07-14
• 公開（公告）號: CN109477878B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: T·尼爾森;P·博爾納特
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01R33/561
• 分類號: G01R33/561;G01R33/565
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種用于從成像區（109）采集對象（118）的測量的磁共振數據的磁共振成像系統（100），其中，所述磁共振成像系統包括：

- 存儲器（150），其用于存儲機器可執行指令（160）并且用于存儲根據壓縮感知磁共振成像協議來采集所述測量的磁共振數據的脈沖序列命令（162）；以及

- 處理器（144），其用于控制所述磁共振成像系統，其中，對所述機器可執行指令的執行使所述處理器：

- 利用所述脈沖序列命令來控制（200）所述磁共振成像系統以采集所述測量的磁共振數據，其中，所述測量的磁共振數據被采集為測量的數據部分（164），其中，所述測量的數據部分中的每個是在一時間段期間被采集的；

- 根據所述壓縮感知磁共振成像協議使用所述測量的磁共振數據來重建（202）中間磁共振圖像（168）；

- 使用所述中間磁共振圖像針對所述測量的數據部分中的每個來計算（204）預測的數據部分（170）；

- 使用所述預測的數據部分針對所述測量的數據部分中的每個來計算（206）殘差（172）；

- 在所述殘差在預定閾值之上的情況下將所述測量的數據部分中的一個或多個識別（208）為異常數據部分（176）；并且

- 根據所述壓縮感知磁共振成像協議使用所述測量的磁共振數據來重建（210）校正的磁共振圖像（178），并且其中，一個或多個所述異常數據部分從對所述校正的磁共振圖像的所述重建中被排除。

2.根據權利要求1所述的磁共振成像系統，其中，所述壓縮感知磁共振成像協議是并行成像磁共振成像協議，其中，所述磁共振成像系統包括具有用于采集所述測量的磁共振數據的多個天線元件（115）的磁共振成像天線（114），其中，在所述時間段期間，所述測量的磁共振數據從所述多個天線元件中的每個天線元件被采集為整體測量的數據部分，并且其中，所述殘差是在所述時間段內針對所述多個天線元件中的每個天線元件來計算的。

3.根據權利要求2所述的磁共振成像系統，其中，所述殘差是針對所述多個天線中的每個天線單獨地來計算的，其中，如果針對所述多個天線中的一個天線的殘差在所述預定閾值之上，則所述整體測量的數據部分被識別為所述異常數據部分中的一個。

4.根據權利要求2所述的磁共振成像系統，其中，所述殘差是所述多個天線的全部殘差上的平均殘差，其中，如果所述平均殘差在所述預定閾值之上，則針對所有所述多個天線的所述整體測量的數據部分被識別為所述異常數據部分中的一個。

5.根據前述權利要求中的任一項所述的磁共振成像系統，其中，在特定時間段內根據所述壓縮感知磁共振成像協議采集的k空間數據使用分布函數被最大地分散在k空間中。

6.根據權利要求5所述的磁共振成像系統，其中，當所述測量的數據部分中的一個或多個測量的數據部分被采集時，所述中間磁共振圖像被重復地重建，其中，當所述一個或多個測量的數據部分被采集時，所述預測的數據部分被重復地計算，其中，當所述一個或多個測量的數據部分被采集時，所述殘差被重復地計算，并且其中，當所述一個或多個測量的數據部分被采集時，在所述殘差在所述預定閾值之上的情況下所述測量的數據部分的所述一個或多個測量的數據部分中對應所述殘差的所述測量的數據部分被重復地識別為所述異常數據部分中的一個。

7.根據權利要求6所述的磁共振成像系統，其中，所述中間磁共振圖像的分辨率隨著越來越多數量的所述測量的磁共振數據被采集而被改變。

8.根據權利要求1-4中的任一項所述的磁共振成像系統，其中，對所述機器可執行指令的執行使所述處理器在測量的數據部分被識別為所述異常數據部分中的一個的情況下重新采集所述測量的數據部分。

9.根據權利要求1-4中的任一項所述的磁共振成像系統，其中，所述殘差是使用將所述測量的數據部分中的每個與所述預測的數據部分進行比較的統計度量來計算的。