[發明專利]鐵粉及其制造方法和前體的制造方法和電感器用成型體及電感器

有效

• 申請號: 201780043515.1
• 申請日: 2017-07-10
• 公開（公告）號: CN109475934B
• 公開（公告）日: 2021-09-28
• 發明（設計）人: 山地秀宜;后藤昌大
• 申請（專利權）人: 同和電子科技有限公司
• 主分類號: B22F1/00
• 分類號: B22F1/00;B22F1/02;B22F5/00;B22F9/22;C01G49/06;C22C38/00;H01F1/24
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 陳冠欽

1.鐵粉，其包含平均一次粒徑為0.25μm以上0.80μm以下并且平均軸比為1.5以下的鐵粒子，其中，上述鐵粉中的P含量相對于上述鐵粉的質量為0.1質量％以上0.78質量％以下，對于將該鐵粉與雙酚F型環氧樹脂以9:1的質量比例混合、進行了加壓成型的成型體在100MHz中測定的復相對磁導率的實部μ’為4以上、復相對磁導率的損耗因子tanδ為0.025以下，

平均一次粒徑是指在以3000倍～30000倍的倍率拍攝的SEM照片中隨機選擇的300個外緣部整體可觀察到的粒子的長徑的平均值，長徑規定為包圍該粒子的最小圓的直徑，

平均軸比是指利用SEM觀察隨機選擇的300個粒子的平均長徑/平均短徑之比，平均長徑和平均短徑分別為關于測定對象的全部粒子的長徑的平均值和短徑的平均值，短徑為在與長徑垂直的方向上測得的最長部分的長度。

2.權利要求1所述的鐵粉，其中，利用Microtrac粒度分布測定裝置測定的以體積基準計的累積50％粒徑為1.2μm以下。

3.權利要求1所述的鐵粉，其中，利用Microtrac粒度分布測定裝置測定的以體積基準計的累積90％粒徑為2.0μm以下。

4.硅氧化物被覆鐵粉，其是權利要求1所述的鐵粒子的表面被硅氧化物被覆而成的。

5.權利要求4所述的硅氧化物被覆鐵粉，其中，上述硅氧化物被覆鐵粉是對于將該硅氧化物被覆鐵粉與雙酚F型環氧樹脂以9:1的質量比例混合、進行了加壓成型的成型體在100MHz中測定的復相對磁導率的實部μ’為2以上、復相對磁導率的損耗因子tanδ為0.025以下的硅氧化物被覆鐵粉。

6.權利要求4所述的硅氧化物被覆鐵粉，其中，硅氧化物的被覆量相對于硅氧化物被覆鐵粉整體的質量以硅計為15質量％以下。

7.權利要求4所述的硅氧化物被覆鐵粉，其中，P含量相對于硅氧化物被覆鐵粉整體的質量為0.1質量％以上2.0質量％以下。

8.硅氧化物被覆鐵粉的前體的制造方法，其是對平均一次粒徑為0.25μm以上0.80μm以下并且平均軸比為1.5以下的鐵粒子的表面實施硅氧化物被覆而成的硅氧化物被覆鐵粉的前體的制造方法，包括：

將包含3價鐵離子和含磷離子的酸性水溶液用堿水溶液中和，得到水合氧化物的沉淀物的漿料的工序；

將硅烷化合物添加至上述漿料，將硅烷化合物的水解產物被覆于上述水合氧化物的沉淀物的工序；

將被覆有上述硅烷化合物的水解產物的水合氧化物的沉淀物進行固液分離并回收的工序；和

對上述回收的、被覆有硅烷化合物的水解產物的水合氧化物的沉淀物進行加熱，得到被覆有硅氧化物的氧化鐵粉的工序，

上述含磷離子為選自磷酸根離子、亞磷酸根離子及次磷酸根離子中的一種以上的離子，

平均一次粒徑是指在以3000倍～30000倍的倍率拍攝的SEM照片中隨機選擇的300個外緣部整體可觀察到的粒子的長徑的平均值，長徑規定為包圍該粒子的最小圓的直徑，

平均軸比是指利用SEM觀察隨機選擇的300個粒子的平均長徑/平均短徑之比，平均長徑和平均短徑分別為關于測定對象的全部粒子的長徑的平均值和短徑的平均值，短徑為在與長徑垂直的方向上測得的最長部分的長度。