[發明專利]利用光學觸摸感應裝置、使接觸與有源儀器相關聯的儀器檢測在審
| 申請號: | 201780041107.2 | 申請日: | 2017-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN109416606A | 公開(公告)日: | 2019-03-01 |
| 發明(設計)人: | O·德拉姆 | 申請(專利權)人: | 拉普特知識產權公司 |
| 主分類號: | G06F3/042 | 分類號: | G06F3/042;G06F3/0354 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245 | 代理人: | 趙志剛;魏利娜 |
| 地址: | 馬耳他,*** | 國省代碼: | 馬耳他;MT |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 波束 觸摸事件 感應裝置 光學觸摸 被檢測器 檢測器 手指觸摸事件 受抑全內反射 多個發射器 發射器 儀器檢測 檢測 筆針 復用 裝設 優選 分析 關聯 | ||
1.一種用于在有源儀器和在觸摸感應表面上檢測的觸摸事件之間建立關聯的方法,所述方法包括:
接收特定于一個或更多個檢測的觸摸事件中的每個的信息;
接收特定于有源儀器的信息;
針對與所述有源儀器引起所述檢測的觸摸事件中的一個的情形的一致性,分析特定于所述有源儀器的信息與特定于所述檢測的觸摸事件的信息;以及
基于所述分析,在所述有源儀器和所述檢測的觸摸事件中的一個之間建立關聯。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,多個發射器和多個檢測器圍繞所述觸摸感應表面的外圍布置,光學波束通過在光學波導中的全內反射從所述多個發射器傳播到所述多個檢測器,所述方法還包括:
基于由于在所述檢測的觸摸事件處將能量耦合離開所述光學波導的受抑全內反射造成的所述光學波束的干擾,檢測所述檢測的觸摸事件的位置。
3.根據權利要求2所述的方法,其中:
特定于所述檢測的觸摸事件中的每個的信息包括被所述檢測的觸摸事件干擾的所述光學波束的透射率;
特定于所述有源儀器的信息包括在所述有源儀器和所述光學波導之間的光學耦合的強度;以及
分析特定于所述有源儀器的信息與特定于所述檢測的觸摸事件的信息包括確定被所述檢測的觸摸事件干擾的所述光學波束的所述透射率與所述有源儀器和所述光學波導之間的光學耦合的所述強度之間的一致性。
4.根據權利要求3所述的方法,其中,所述有源儀器將光注入到所述光學波導中,所述方法還包括:
基于從所述有源儀器注入到所述光學波導中的所述光的耦合,確定所述有源儀器和所述光學波導之間的光學耦合的所述強度。
5.根據權利要求3所述的方法,其中,所述有源儀器檢測耦合離開所述光學波導的光學波束,所述方法還包括:
基于通過受抑全內反射耦合離開所述光學波導并且進入所述有源儀器的所述光學波束,確定所述有源儀器和所述光學波導之間的光學耦合的所述強度。
6.根據權利要求3所述的方法,其中:
特定于所述檢測的觸摸事件中的每個的信息包括被所述檢測的觸摸事件干擾的所述光學波束的透射率的時間變化;
特定于所述有源儀器的信息包括所述有源儀器和所述光學波導之間的光學耦合的強度的時間變化;以及
分析特定于所述有源儀器的信息與特定于所述檢測的觸摸事件的信息包括確定被所述檢測的觸摸事件干擾的所述光學波束的透射率的所述時間變化與所述有源儀器和所述光學波導之間的光學耦合的所述強度的所述時間變化之間的一致性。
7.根據權利要求2所述的方法,其中
特定于所述檢測的觸摸事件中的每個的信息包括所述檢測的觸摸事件的隨時間的移動;
特定于所述有源儀器的信息包括所述有源儀器的隨時間的移動;以及
分析特定于所述有源儀器的信息與特定于所述檢測的觸摸事件的信息包括確定所述檢測的觸摸事件的所述移動和所述有源儀器的所述移動之間的一致性。
8.根據權利要求7所述的方法,其中,所述有源儀器的所述移動通過所述有源儀器中的運動傳感器捕獲。
9.根據權利要求8所述的方法,其中,接收特定于所述有源儀器的信息在延遲的基礎上發生。
10.根據權利要求2所述的方法,其中
特定于所述檢測的觸摸事件中的每個的信息包括所述檢測的觸摸事件的位置;
所述有源儀器根據發射模式將光注入到所述光學波導中,并且特定于所述有源儀器的信息包括所述有源儀器的所述發射模式并且還包括由所述多個檢測器檢測的注入光的模式;以及
分析特定于所述有源儀器的信息與特定于所述檢測的觸摸事件的信息包括確定實際檢測的注入光的模式與以所述檢測的觸摸事件的所述位置為中心的所述發射模式會產生的模式之間的一致性。
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