[發明專利]具有改善的熱性能的磁共振成像

有效

• 申請號: 201780040967.4
• 申請日: 2017-06-28
• 公開（公告）號: CN109477874B
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: C·L·G·哈姆;M·K·特默
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01R33/34
• 分類號: G01R33/34;G01R33/38;G01R33/385;G01R33/54
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種磁共振（MR）成像裝置，包括：

MR成像設備（10），其包括磁體（12）和多個發熱部件；

冷卻系統（30），其被連接以使用冷水冷卻所述MR成像設備的所述多個發熱部件；

一個或多個傳感器，每個傳感器被配置為測量所述MR成像設備的所述多個發熱部件的熱參數或所述冷卻系統的熱參數；以及

MR控制器（40），其包括電子處理器，所述電子處理器被編程為控制所述MR成像設備執行MR成像檢查程序（42），并且響應于所測量的熱參數中的一個或多個指示所述冷卻系統具有不足的冷卻容量來調整所述MR成像檢查程序的執行，其中，所述冷卻系統包括：

冷卻劑回路（32），其被配置為使用在所述冷卻劑回路中流動的冷卻劑來冷卻所述MR成像設備（10）的所述多個發熱部件中的至少一個；

熱交換器（34），其與所述冷卻劑回路連接，以將熱量從所述冷卻劑傳遞到所述冷水；并且

其中，所述冷卻劑回路包括混合閥（36），所述混合閥（36）將來自所述熱交換器的冷卻劑與來自所述冷卻劑回路的返回管線的冷卻劑混合，以在設定點溫度處輸出混合后的冷卻劑；并且

其中，所述一個或多個傳感器包括輸出所述冷卻劑回路的所述混合閥的閥設置作為熱參數的閥傳感器。

2.根據權利要求1所述的MR成像裝置，其中：

所述MR成像設備（10）的所述多個發熱部件包括低溫壓縮機（18），其被連接以將所述磁體（12）維持在超導狀態中；并且

所述MR控制器（40）被編程為響應于由所述一個或多個傳感器測量的熱參數指示所述冷卻系統具有不足的冷卻容量而通過在所述MR成像檢查程序（42）的所述執行期間關閉所述低溫壓縮機來調整所述MR成像檢查程序的所述執行。

3.根據權利要求1-2中的任一項所述的MR成像裝置，其中，所述MR控制器（40）被編程為響應于由所述一個或多個傳感器測量的熱參數指示所述冷卻系統具有不足的冷卻容量而通過在所述MR成像檢查程序（42）的MR掃描的執行期間或者所述MR成像檢查程序的連續MR掃描的執行之間插入暫停來調整所述MR成像檢查程序的所述執行。

4.根據權利要求1或2所述的MR成像裝置，其中，所述MR控制器（40）被編程為使用熱模型（80）來確定所述冷卻系統是否具有不足的冷卻容量，所述熱模型（80）包括：

梯度鏈熱輸出部件（84），其基于所述MR成像檢查程序（42）的磁場梯度線圈驅動電流和所述磁場梯度線圈驅動電流的主頻率來計算磁場梯度放大器（20）和磁場梯度線圈（22）的熱輸出；以及

射頻（RF）放大器熱輸出部件（86），其基于在所述MR成像檢查程序（42）期間由RF放大器（24）遞送的平均RF功率和峰值RF功率來計算所述RF放大器的熱輸出。

5.根據權利要求1或2所述的MR成像裝置，其中，所述MR控制器（40）被編程為響應于由所述一個或多個傳感器測量的熱參數指示所述冷卻系統具有不足的冷卻容量而通過調整所述MR成像檢查程序（42）的MR掃描的MR掃描參數來調整所述MR成像檢查程序的所述執行。

6.根據權利要求1或2所述的MR成像裝置，其中，所述MR控制器（40）被編程為響應于由所述一個或多個傳感器測量的熱參數指示所述冷卻系統具有不足的冷卻容量而通過以下操作中的一個或兩者來調整所述MR成像檢查程序（42）的所述執行：（i）跳過所述MR成像檢查程序的MR掃描的執行或（ii）重新排序所述MR成像檢查程序的MR掃描。

7.根據權利要求1或2所述的MR成像裝置，其中，所述MR成像設備的所述多個發熱部件包括磁場梯度放大器（20）、磁場梯度線圈（22）和射頻（RF）放大器中的一個或多個，并且所述一個或多個傳感器包括測量所述多個發熱部件的溫度的溫度傳感器或測量流入所述多個發熱部件的冷卻劑入口管線和流出所述多個發熱部件的冷卻劑返回管線中的一個或兩者的溫度的溫度傳感器。