[發明專利]用于檢測部件中的缺陷的系統和方法有效
| 申請號: | 201780040140.3 | 申請日: | 2017-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN109416333B | 公開(公告)日: | 2021-07-27 |
| 發明(設計)人: | V·V·納拉德加;T·J·巴辛格;Y·A·普羅特尼科夫;S·T·曼達亞姆;B·E·奈特;S·杰亞拉曼;E·森古普塔 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | G01N25/72 | 分類號: | G01N25/72 |
| 代理公司: | 上海華誠知識產權代理有限公司 31300 | 代理人: | 徐穎聰 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢測 部件 中的 缺陷 系統 方法 | ||
1.一種用于檢查部件的方法,所述方法包括:
通過感應線圈引發電流到所述部件中;
通過紅外(IR)攝像機采集所述部件的熱像數據,其中所述熱像數據包括至少第一組幀和第二組幀,所述第一組幀在第一時間間隔處對應于所述部件的第一區域,所述第二組幀在與所述第一時間間隔不同的第二時間間隔處對應于所述部件的第二區域;
通過處理單元基于在所述部件的一部分處的溫度下降確定所述第一組幀的所述熱像數據中的第一參照點,其中,所述第一參照點表示所述部件的所述一部分與所述紅外 (IR)攝像機 被阻隔開;
通過所述處理單元基于在所述部件的另一部分處的溫度下降確定所述第二組幀的所述熱像數據中的第二參照點,其中,所述第二參照點表示所述部件的所述另一部分與所述紅外 (IR) 攝像機 被阻隔開;
通過所述處理單元從所述第一參照點之前的第一過程期間內的所述第一組幀中選擇第一子組幀;
通過所述處理單元從所述第二參照點之前的第二過程期間內的所述第二組幀中選擇第二子組幀;
通過所述處理單元基于與所述部件對應的至少所述第一子組幀和所述第二子組幀構建熱圖像;以及
確定所述熱圖像中熱特征的存在,其中,所述熱特征代表所述部件中的缺陷。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,構建所述熱圖像包括:
將所述第一子組幀和所述第二子組幀組合以至少部分地構建所述部件的所述熱圖像。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述熱特征包括所述部件的所述熱圖像中的第一熱特征和第二熱特征中的一者。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一熱特征指示所述部件中的具有第一取向的裂紋,其中,具有所述第一取向的所述裂紋基本上垂直于所述部件中的所述引發的電流的方向。
5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二熱特征指示所述部件中的具有第二取向的裂紋,其中,具有所述第二取向的所述裂紋基本上平行于所述部件中的所述引發的電流的方向。
6.根據權利要求1所述的方法,進一步包括:
通過運動控制器使所述感應線圈圍繞所述部件定位;以及
通過所述運動控制器使所述感應線圈在所述部件的至少一部分內平移,其中,所述部件的所述部分設置于所述部件的第一端部與第二端部之間。
7.根據權利要求6所述的方法,進一步包括在使所述感應線圈平移之前在與所述部件相距預定距離處設置所述IR攝像機。
8.一種用于檢查部件的裝置,所述裝置包括:
感應線圈,所述感應線圈構造為引發電流所述部件中;
紅外(IR)攝像機,所述紅外攝像機構造為采集所述部件的熱像數據,其中所述熱像數據包括至少第一組幀和第二組幀,所述第一組幀在第一時間間隔處對應于所述部件的第一區域,所述第二組幀在與所述第一時間間隔不同的第二時間間隔處對應于所述部件的第二區域;
處理單元,所述處理單元電氣連接至所述紅外 (IR) 攝像機 并構造為:
基于在所述部件的一部分處的溫度下降確定所述第一組幀的所述熱像數據中的第一參照點,其中,所述第一參照點表示所述部件的所述一部分與所述紅外 (IR) 攝像機 被阻隔開;
基于在所述部件的另一部分處的溫度下降確定所述第二組幀的所述熱像數據中的第二參照點,其中,所述第二參照點表示所述部件的所述另一部分與所述紅外 (IR) 攝像機被阻隔開;
從所述第一參照點之前的第一過程期間內的所述第一組幀中選擇第一子組幀;
從所述第二參照點之前的第二過程期間內的所述第二組幀中選擇第二子組幀;
基于至少所述第一子組幀和所述第二子組幀構建熱圖像;并且
確定所述熱圖像中熱特征的存在,其中,所述熱特征代表所述部件中的缺陷。
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