[發明專利]費希爾精確檢驗計算裝置、方法以及記錄介質有效
| 申請號: | 201780038368.9 | 申請日: | 2017-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN109328346B | 公開(公告)日: | 2023-07-28 |
| 發明(設計)人: | 長谷川聰;濱田浩氣;千田浩司;長崎正朗;三澤計治 | 申請(專利權)人: | 日本電信電話株式會社;國立大學法人東北大學 |
| 主分類號: | G06F17/18 | 分類號: | G06F17/18;G16B40/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 鄭海濤 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 希爾 精確 檢驗 計算 裝置 方法 以及 記錄 介質 | ||
1.一種費希爾精確檢驗計算裝置,包括:
選擇單元,根據在求費希爾精確檢驗的結果的中途的計算中得到的參數,從多個合計表中選擇存在得到顯著的含義的費希爾精確檢驗的結果的可能性的合計表;以及
計算單元,對所述選擇出的合計表的每一個進行費希爾精確檢驗的計算,
在將a,b,c,d設為合計表的頻數,將T設為顯著性水平,求費希爾精確檢驗的結果的途中的計算中得到的參數是通過以下式子定義的pa,
上述選擇單元選擇pa≦T的合計表
2.如權利要求1所述的費希爾精確檢驗計算裝置,
上述選擇單元在通過秘密計算將上述多個合計表的頻數隱匿化的狀態下,進行上述合計表的選擇。
3.如權利要求2所述的費希爾精確檢驗計算裝置,
上述選擇單元根據從E(ai),E(bi),E(ci),E(di)求費希爾精確檢驗的結果的中途的計算中得到的參數,通過隱匿計算E(Xi'),求m個組(E(a1),E(b1),E(c1),E(d1),E(X1')),(E(a2),E(b2),E(c2),E(d2),E(X2')),…,(E(am),E(bm),E(cm),E(dm),E(Xm')),在隱匿更換順序的同時更換m個組(E(a1),E(b1),E(c1),E(d1),E(X1')),(E(a2),E(b2),E(c2),E(d2),E(X2')),…,(E(am),E(bm),E(cm),E(dm),E(Xm'))的順序,解碼E(Xi'),選擇存在得到該解碼結果顯著的含義的費希爾精確檢驗的結果的可能性的合計表,其中將m設為正整數,將上述多個合計表設為多個合計表i(i=1,2,…,m),將合計表i的頻數設為ai,bi,ci,di,將分別隱匿化了ai,bi,ci,di的信息設為E(ai),E(bi),E(ci),E(di),將表示合計表i是否為存在得到顯著的含義的費希爾精確檢驗的結果的可能性的合計表的信息設為E(Xi')。
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