[發明專利]包括多個光導的檢測器系統和包括檢測器系統的光譜儀

有效

• 申請號: 201780035732.6
• 申請日: 2017-06-12
• 公開（公告）號: CN109313077B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 博·勒夫奎斯特;佩爾·霍瓦特
• 申請（專利權）人: 波米爾公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;B07C5/34;G01J3/02;G01J3/32;G01N21/27
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 紀雯

1.一種檢測器系統(100)，包括：

多個光導(11a，11b，11c，11d)，使用時每個光導引導來自相應的對象的入射光，其中借助于照明裝置(10)來提供所述入射光，所述照明裝置(10)包括至少兩個光源，用于向每個光導(11a，11b，11c，11d)提供光，其中來自所述照明裝置(10)的光透射穿過所述對象并至少部分地由從所述對象接收所述入射光的相應的光導收集；

衍射裝置(12)，用于將所述入射光衍射成不同波長范圍；

至少一個聚焦器(13)，用于將離開所述光導的所述入射光投射到所述衍射裝置上；

檢測器(14)，具有用于從所述多個光導接收衍射光的檢測器區域；以及

控制單元(15)，被布置為：

基于被配置為指示用于激活每個照明裝置(10)的定時的脈沖定時參數，使所述入射光一次僅脈動通過一個光導，以及

基于所述脈沖定時參數，記錄從每個光導衍射并由所述檢測器(14)檢測的光的光譜，

其中，所述檢測器區域的用于接收從第一光導衍射的光的第一子區域在所述檢測器區域上與所述檢測器區域的用于接收從第二光導衍射的光的第二子區域重疊，以及

其中，所述檢測器區域具有特定的高度和特定的寬度，用于接收來自所述多個光導的衍射光束，其中所述多個光導(11a，11b，11c，11d)中的至少兩個光導沿著平行于所述高度的方向彼此疊置而布置成特定的幾何配置。

2.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所述幾何配置為光導保持器(21)的形狀，其中所述光導保持器具有多于一個的行和多于一個的列，其中所述光導保持器(21)的每個位置被布置為被光導占據。

3.根據權利要求1或2所述的檢測器系統(100)，其中，所述對象是顆粒。

4.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所述檢測器區域的寬度小于256個像素。

5.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所述檢測器包括2D檢測器區域。

6.根據權利要求5所述的檢測器系統(100)，其中，所述控制單元(15)還被布置為：

將與所記錄的光譜相關聯的信息與和至少一個參考光譜相關聯的對應信息進行比較，以及

確定所記錄的光譜是否與所述至少一個參考光譜相匹配。

7.根據權利要求6所述的檢測器系統(100)，其中，所述控制單元還被布置為：

基于所記錄的光譜與所述至少一個參考光譜之間的匹配來識別關聯對象的特性。

8.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所記錄的光譜適于從所述檢測器的關聯子區域的每個像素直接讀出。

9.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所述檢測器是光電傳感器，所述光電傳感器與用于從所述檢測器即時讀出的至少一個模數(AD)轉換器相連。

10.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所述檢測器包括用于從所述檢測器順序讀出的CMOS基板。

11.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，所述照明裝置被布置為提供在800nm至2600nm范圍內的光。

12.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，每個照明裝置包括至少兩個LED照明裝置。

13.根據權利要求1所述的檢測器系統(100)，其中，每個照明裝置包括LED、激光器或頻閃儀照明裝置中的至少兩個，其中所述LED、所述激光器或所述頻閃儀照明裝置中的每一個提供不同波長光譜的光。