[發明專利]自動分析裝置有效
| 申請號: | 201780034514.0 | 申請日: | 2017-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN109219751B | 公開(公告)日: | 2022-05-03 |
| 發明(設計)人: | 石田猛;足立作一郎;山下善寬;信木俊一郎;藪谷恒;山崎功夫;米夏埃拉·溫德富爾;伯恩哈德·豪普特曼;西蒙·屈斯特 | 申請(專利權)人: | 株式會社日立高新技術;F.霍夫曼-拉羅馳股份公司 |
| 主分類號: | G01N35/00 | 分類號: | G01N35/00;A61L2/10;C02F1/32 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 張敬強;金成哲 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自動 分析 裝置 | ||
1.一種自動分析裝置,其特征在于,具有:
殺菌機構,其在更換試劑或者更換保持試劑的容器時裝卸自如地裝配于上述容器的口,且具有通過紫外LED照射紫外光的紫外光產生部;
吸引噴嘴,其與上述殺菌機構一起裝卸自如地裝配于上述容器的口;
分析部,其將經由上述吸引噴嘴從上述容器吸引的試劑添加到試樣中,并執行分析動作;以及
控制部,其對由上述紫外光產生部產生的紫外光的照射光量進行可變控制,且根據殘留于上述容器中的試劑的殘留量來控制紫外光的照射光量。
2.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述控制部基于上述分析部的分析次數或者由液面檢測機構檢測出的液面高度,來求出試劑的殘留量。
3.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述控制部通過紫外光的照度以及照射時間這雙方或者一方的控制,來控制紫外光的照射光量。
4.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述紫外光產生部照射波長180nm~350nm的紫外光。
5.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述控制部通過向上述紫外光產生部供給的電流、電壓以及通電時間的任一個控制,來控制紫外光的照射光量。
6.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
還具有磁性攪拌器,該磁性攪拌器從上述容器的外部對投入到上述容器的內部的攪拌件進行驅動。
7.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述殺菌機構還具有容納部,該容納部使上述紫外光產生部從試劑隔水,并且包含透過從上述紫外光產生部照射的紫外光的區域。
8.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述殺菌機構配置于上述容器的口的附近,朝向試劑照射紫外光。
9.根據權利要求8所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述紫外光產生部以包圍上述吸引噴嘴的方式配置。
10.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述紫外光產生部以包圍上述吸引噴嘴的方式,分別配置在上述吸引噴嘴的多個高度位置。
11.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述殺菌機構還具有容納上述紫外光產生部的容納部、容納上述容納部的第二容納部、以及配置于上述容納部與上述第二容納部之間的絕熱部。
12.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述紫外光產生部具有以安裝于上述容器的狀態在上述容器的深度方向上排列的多個紫外LED,
上述控制部以使位于比試劑的液面靠上方的上述紫外LED熄燈或者減小其光量的方式進行控制。
13.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述紫外光產生部具有多個紫外LED,
上述殺菌機構具有直接或間接地測定上述紫外LED的結溫的溫度傳感器,
上述控制部基于測定出的結溫,來控制向上述紫外光產生部供給的電流、電壓以及通電時間的任一個。
14.根據權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,
上述控制部將有無執行適當的殺菌或者檢測出異常顯示于顯示部。
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