[發明專利]用于片材元件加工機的質量控制站和用于質量控制站的照明單元

在審

• 申請號: 201780033484.1
• 申請日: 2017-05-17
• 公開（公告）號: CN109313140A
• 公開（公告）日: 2019-02-05
• 發明（設計）人: M·理查德;F·皮勞德
• 申請（專利權）人: 鮑勃斯脫梅克斯股份有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89
• 代理公司: 北京德崇智捷知識產權代理有限公司 11467
• 代理人: 金星

1.一種用于片材元件加工機的質量控制站（2），具有至少一個攝像機（6），用于捕獲傳輸通過所述質量控制站（2）的片材元件（4）的圖像，并且還具有一個照明單元（5），所述照明單元（5）具有至少一個發光器（16）和兩個反射器（12、14），所述照明單元（5）用于將光引導到所述攝像機（6）的觀察區域上，使得盡管改變了介質厚度，但照明強度是恒定的。

2.根據權利要求1所述的質量控制站（2），其中，所述照明單元（5）包括承載所述發光器（16）的基座（10），所述發光器（16）沿所述照明單元（5）的長度延伸，所述兩個反射器（12、14）沿所述發光器（16）延伸并且布置成彼此面對，每個所述反射器（12、14）在橫截面中觀察時具有拋物線或非球面輪廓、特別是圓錐形輪廓。

3.根據權利要求1或2所述的質量控制站，其中，所述發光器（16）由彼此相鄰布置的多個LED形成。

4.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，所述發光器（16）布置成緊鄰所述基座（10）。

5.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，在所述照明單元（5）的光學平面（O₅）與所述反射器（12、14）之間存在約20°的打開角度。

6.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，還包括漫射器（18）。

7.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，所述兩個反射器（12、14）具有相同的輪廓。

8.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，所述照明單元（5）的長度大于200mm。

9.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，所述反射器（12、14）的光學平面（O₅）相對于平面（P）以大約45°的角度（β）布置，平面（P）垂直于其中布置有觀察區域的平面（9）。

10.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，所述攝像機（6）的光學平面（O₆）相對于平面（P）以大約20°的角度（α）布置，平面（P）垂直于其中布置有觀察區域的平面（9）。

11.根據前述權利要求中任一項所述的質量控制站，其中，所述發光器（16）布置成距所述觀察區域（7）60至120mm、特別是90mm。

12.一種照明單元（5），用于在前述權利要求中任一項所述的質量控制系統中使用。

13.一種用于質量控制站的照明單元（5），包括：一個底座（10），其承載沿著所述照明單元（5）的長度延伸的至少一個發光器（16）以及沿所述發光器（16）延伸并且布置成彼此面對的兩個反射器（12、14），每個所述反射器（12、14）在橫截面中觀察時具有圓錐形輪廓，所述照明單元（5）在對應于照明場的矩形區域上提供基本均勻的輻照分布，照明場在介質饋送方向上延伸一定距離，并且輻照的均勻分布存在于照明場上方的不同水平處，直到在照明場上方一定距離的水平面。