[發明專利]輻射信號處理系統

在審

• 申請號: 201780027640.3
• 申請日: 2017-05-02
• 公開（公告）號: CN109073572A
• 公開（公告）日: 2018-12-21
• 發明（設計）人: 愛德華·詹姆斯·莫頓
• 申請（專利權）人: 拉皮斯坎系統股份有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/087;G01N23/203
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 梁麗超;劉瑞賢

1.一種信號處理方法，所述信號處理方法用于基于雙能量的X射線掃描系統，所述基于雙能量的X射線掃描系統包括：X射線源，被配置為生成高能X射線和低能X射線；以及線性檢測器陣列，至少具有被配置為檢測所述高能X射線并產生高能像素數據的高能X射線檢測器和被配置為檢測所述低能X射線并產生低能像素數據的低能X射線檢測器，所述方法包括：

使用所述線性檢測器陣列，生成所述高能像素數據和所述低能像素數據；

使用與所述線性檢測器陣列進行數據通信的處理器，在形狀上采樣所述高能像素數據和所述低能像素數據，從而分別將采樣的高能像素數據和采樣的低能像素數據創建成點軌跡的形式；

使用所述處理器，基于采樣的高能像素數據和采樣的低能像素數據計算多個等效檢測器厚度；

使用所述處理器，基于所述多個等效檢測器厚度確定有效Z的值；

使用所述處理器，確定所述采樣的高能像素數據和所述采樣的低能像素數據的強度的值；

使用所述處理器，基于所述有效Z和所述強度生成圖像；并且在顯示器上顯示所述圖像。

2.根據權利要求1所述的信號處理方法，其中，在形狀上采樣高能像素數據和低能像素數據包括：將所述高能像素數據和所述低能像素數據作為等距點內插在預定弧上。

3.根據權利要求1所述的信號處理方法，其中，確定所述有效Z的值還包括使用采樣的高能像素數據和采樣的低能像素數據。

4.根據權利要求1所述的信號處理方法，其中，確定所述有效Z的值包括訪問查找表，以檢索將所述有效Z與所述多個等效檢測器厚度的函數相關的數據。

5.根據權利要求4所述的信號處理方法，其中，通過測量透過放置在所述X射線源的路徑中的具有已知特性的吸收器的透射，來確定所述函數，所述X射線源被配置成生成所述高能X射線和所述低能X射線。

6.根據權利要求5所述的信號處理方法，其中，通過將所述吸收器放置在與所述X射線源鄰近的機動運輸工具上，所述高能X射線和所述低能X射線穿過所述吸收器。

7.根據權利要求5所述的信號處理方法，其中，所述吸收器包括以階梯配置方式定位的多種不同物質。

8.根據權利要求7的信號處理方法，其中，所述多種不同物質包括塑料、鋁和鋼。

9.根據權利要求5所述的信號處理方法，其中，所述吸收器包括多種不同物質，其中，所述多種不同物質中的每種物質具有不同的長度，并且位于所述多種不同物質中的另一種物質的頂上，以創建階梯配置。

10.根據權利要求1所述的信號處理方法，其中，確定采樣的高能像素數據和采樣的低能像素數據的強度值包括：使用采樣的高能像素數據、采樣的低能像素數據和從查找表中獲取的預定變量。

11.根據權利要求10所述的信號處理方法，其中，所述預定變量由曲線確定，所述曲線對為了補償降低的低能像素所需的高能量的量進行加權。