[發明專利]用于校準牙科烘箱的溫度測量裝置的方法和校準元件

有效

• 申請號: 201780023827.6
• 申請日: 2017-04-13
• 公開（公告）號: CN109073483B
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: C.庫爾茨
• 申請（專利權）人: 西諾德牙科設備有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 郭帆揚;李雪瑩

1.一種用于借助于至少一個校準元件（6）校準牙科烘箱（2）的溫度測量裝置（1）的方法，

- 其中，在加熱時段（dt）期間，在所述牙科烘箱（2）中將所述至少一個校準元件（6）從起始溫度（TA）加熱到結束溫度（TE），

- 其中，在加熱時段（dt）期間，借助于所述溫度測量裝置（1）測量所述牙科烘箱（3）中的溫度作為實際溫度（T），

其特征在于借助于所述牙科烘箱對所述校準元件進行感應加熱，

- 所述至少一個校準元件（6）具有至少一種測量材料（7），其中至少一種測量材料（7、8）是鐵磁性的或亞鐵磁性的，

- 所述測量材料具有在第一轉變溫度（TC1）下發生的可逆相轉變，其中所述轉變溫度（TC1、TC2）對應于所述測量材料（7、8）的居里溫度，

- 所述第一轉變溫度（TC1）高于所述起始溫度（TA）并且低于所述結束溫度（TE），

- 所述相轉變導致所述牙科烘箱（2）的至少一個第一參數（I）的突變，

- 在加熱時段（dt）內測量所述牙科烘箱（2）的第一參數（I），并且在加熱時段（dt）期間識別所述第一參數（I）的至少一個第一突變（dI1），

- 其中確定當所述第一參數（I）的第一突變（dI1）發生時由所述溫度測量裝置（1）測量的第一實際溫度值（T1）與所述第一轉變溫度（TC1）的偏差，并且根據所述偏差校正所述溫度測量裝置（1）的實際溫度（T）。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個校準元件包括至少一種第一測量材料（7）和第二測量材料（8），或者包括第一測量材料（7）的至少一個第一校準元件和包括第二測量材料（8）的第二校準元件在所述牙科烘箱（2）中同時被加熱，

- 其中所述第一測量材料（7）具有第一轉變溫度（TC1），并且所述第二測量材料（8）具有不同于所述第一轉變溫度（TC1）的第二轉變溫度（TC2），

- 其中對于每個測量材料（7、8），識別在加熱時段（dt）期間所述第一參數（I）的突變（dI1、dI2），并且相應地確定在所述第一參數（I）的相應突變（dI1、dI2）時用所述溫度測量裝置（1）測量的實際溫度值（T1、T2）與相應的測量材料（7、8）的相應轉變溫度（TC1、TC2）的偏差，并且

- 其中基于針對不同測量材料（7、8）識別的偏差而形成所述偏差之間的校正值（K）和/或線性校正，并且通過所述校正值（K）和/或所述線性校正來校正所述溫度測量裝置（1）的實際溫度（T）。

3.根據權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，至少一種測量材料（7、8）顯示出取決于溫度的電導率的突變。

4.根據權利要求1至2中任一項所述的方法，其特征在于，所述參數（I）是電流或電壓的幅度或交流電流或交流電壓的頻率。