[發(fā)明專利]光學(xué)檢測方法及光學(xué)檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201780023359.2
• 申請日: 2017-02-23
• 公開（公告）號: CN109154561B
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 安浦雅人;藤卷真;蘆葉裕樹;島隆之
• 申請（專利權(quán)）人: 國立研究開發(fā)法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41;G01N21/17;G01N21/64;G01N33/543
• 代理公司: 北京律盟知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287
• 代理人: 沈錦華

1.一種光學(xué)檢測方法，其特征在于：是使用近場將由檢測板正面上的包含靶物質(zhì)的結(jié)合體產(chǎn)生的熒光或散射光作為光信號進(jìn)行檢測的靶物質(zhì)的光學(xué)檢測方法，且

所述結(jié)合體通過至少所述靶物質(zhì)與磁性粒子的結(jié)合而形成，所述正面為實(shí)施了抑制所述結(jié)合體的吸附的化學(xué)處理、并且能夠根據(jù)施加磁場將存在于所述近場內(nèi)的所述結(jié)合體移動(dòng)到所述近場外的面，對通過第1結(jié)合體移動(dòng)步驟及第2結(jié)合體移動(dòng)步驟的任一步驟中實(shí)施的結(jié)合體移動(dòng)步驟、及于所述結(jié)合體移動(dòng)步驟前后的所述結(jié)合體的移動(dòng)而產(chǎn)生的所述光信號的減少或移動(dòng)進(jìn)行測量來檢測所述靶物質(zhì)，所述第1結(jié)合體移動(dòng)步驟是施加使存在于所述近場內(nèi)的所述結(jié)合體沿與所述正面平行的方向或朝遠(yuǎn)離所述正面的方向移動(dòng)到所述近場內(nèi)或所述近場外的第1磁場，所述第2結(jié)合體移動(dòng)步驟是通過從配置在所述檢測板的背面?zhèn)鹊拇艌鍪┘硬渴┘拥?磁場而將所述結(jié)合體吸引到所述正面上，并且在施加了所述第2磁場的狀態(tài)下使所述磁場施加部朝具有與所述檢測板的所述正面的面內(nèi)方向平行的方向的矢量成分的方向移動(dòng)，追隨所述磁場施加部的移動(dòng)而在能夠移動(dòng)到所述近場外的狀態(tài)下使存在于所述近場內(nèi)的所述結(jié)合體移動(dòng)到所述近場內(nèi)或所述近場外。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：所述光信號的減少因通過施加所述第1磁場使所述結(jié)合體遠(yuǎn)離所述正面而引起。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：所述結(jié)合體通過重力沉降而沉降到所述正面附近之后，通過所述第1結(jié)合體移動(dòng)步驟使所述結(jié)合體移動(dòng)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：通過施加吸引磁場將所述結(jié)合體吸引到所述正面附近之后，通過所述第1結(jié)合體移動(dòng)步驟使所述結(jié)合體移動(dòng)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：將所述施加吸引磁場的步驟與所述第1結(jié)合體移動(dòng)步驟交替地進(jìn)行多次。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：所述結(jié)合體在所述靶物質(zhì)中結(jié)合有2個(gè)以上的所述磁性粒子。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：所述結(jié)合體在所述靶物質(zhì)中結(jié)合有利用所述近場發(fā)出熒光或散射光的標(biāo)記物質(zhì)。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測方法，其特征在于：所述結(jié)合體在所述靶物質(zhì)中結(jié)合有配重物質(zhì)。

9.一種光學(xué)檢測裝置，其特征在于具備：

液體保持部，具備利用從背面?zhèn)纫匀瓷錀l件照射的光能夠在正面上形成近場的檢測板，且能夠?qū)形镔|(zhì)的液體的試樣及與所述靶物質(zhì)形成結(jié)合體的磁性粒子保持在所述檢測板的所述正面上；

光照射部，以所述全反射條件從所述檢測板的所述背面?zhèn)日丈涔猓?/p>

光檢測部，配置在所述檢測板的所述正面?zhèn)龋瑢⑺稣嫔系膮^(qū)域設(shè)為檢測區(qū)域并檢測利用所述近場從所述結(jié)合體發(fā)出的熒光或散射光；及

磁場施加部，由第1磁場施加部及第2磁場施加部中的任一個(gè)形成，所述第1磁場施加部施加使所述結(jié)合體沿與所述正面平行的方向或朝遠(yuǎn)離所述正面的方向移動(dòng)的第1磁場，所述第2磁場施加部配置在所述檢測板的所述背面?zhèn)龋夷軌蛲ㄟ^施加磁場將導(dǎo)入到所述檢測板的所述正面上的所述試樣中的所述結(jié)合體吸引到所述檢測板的所述正面上，并且在施加了所述磁場的狀態(tài)下使所述結(jié)合體朝具有與所述檢測板的所述正面的面內(nèi)方向平行的方向的矢量成分的方向移動(dòng)；

所述正面為實(shí)施了抑制所述結(jié)合體的吸附的化學(xué)處理、并且能夠根據(jù)施加磁場將存在于所述近場內(nèi)的所述結(jié)合體移動(dòng)到所述近場外的面，而且所述磁場施加部能夠?qū)⒋嬖谟谒鼋鼒鰞?nèi)的所述結(jié)合體移動(dòng)到所述近場內(nèi)或所述近場外。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光學(xué)檢測裝置，其特征在于：所述磁場施加部由所述第1磁場施加部形成，且具備施加將所述結(jié)合體吸引到所述正面的磁場的吸引磁場施加部。