[發明專利]電導率或電阻率測量和聚酰胺合成

有效

• 申請號: 201780021369.2
• 申請日: 2017-03-29
• 公開（公告）號: CN109073581B
• 公開（公告）日: 2022-03-18
• 發明（設計）人: 布賴恩·D·考希瓦
• 申請（專利權）人: 英威達紡織（英國）有限公司
• 主分類號: G01N27/10
• 分類號: G01N27/10
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 陳平

1.一種測定水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和二羧酸與二胺的摩爾比的方法，其包含：

a.將隨溫度而變化的包含二羧酸和二胺的參比水溶液的電導率或電阻率的變化與所述參比水溶液中二羧酸和二胺的總濃度以及所述參比水溶液中二羧酸與二胺的摩爾比相關聯；

b.測量包含所述二羧酸和所述二胺的水溶液在兩種或更多種不同溫度下的電導率或電阻率；和

c.將步驟(a)的相關性應用于步驟(b)的測量中，以測定所述水溶液中二羧酸和二胺的總濃度以及所述水溶液中所述二羧酸與所述二胺的摩爾比。

2.根據權利要求1所述的方法，其中連續地進行步驟(b)和(c)。

3.根據權利要求1所述的方法，其中步驟(b)的測量和步驟(c)的測定在用于聚酰胺化工藝的水性進料上進行。

4.根據權利要求1所述的方法，其中步驟(c)進一步包含測定所述水溶液中二羧酸和二胺的濃度。

5.根據權利要求1所述的方法，其中步驟(c)進一步包含測定以下摩爾比：

二羧酸摩爾濃度之和；與

二胺摩爾濃度之和。

6.根據權利要求1所述的方法，其中步驟(c)進一步包含測定酰胺化程度。

7.根據權利要求1所述的方法，其中測量步驟(b)進一步包含在與聚酰胺制造設備物理分開的位置處收集用于電導率或電阻率測量的樣品并且進行測量。

8.根據權利要求1所述的方法，其中在制造工藝管路或設備內連續性或周期性地在線進行電導率和溫度測量。

9.根據權利要求1所述的方法，其中測量的電導率和溫度用于控制工藝相關的設備，包括流速、溫度、壓力和操作液位。

10.根據權利要求1所述的方法，其中所述二羧酸是己二酸。

11.根據權利要求1所述的方法，其中所述二胺是六亞甲基二胺。

12.根據權利要求1所述的方法，其中所述二羧酸是己二酸并且所述二胺是六亞甲基二胺。

13.至少一種機器可讀介質，其具有用于控制水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和二羧酸與二胺的摩爾比的指令，所述指令在由處理整機電路執行時，致使所述處理整機電路執行操作：

獲得包含二羧酸和二胺的參比水溶液的電模型，所述電模型將隨溫度而變化的電導率或電阻率與所述參比水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和二羧酸與二胺的摩爾比相關聯；

從第一探針獲得第一溫度下的水溶液的電導率或電阻率的第一測量值；

從第二探針獲得第二溫度下的所述水溶液的電導率或電阻率的第二測量值，所述第二溫度不同于所述第一溫度；

將所述第一測量值和所述第二測量值應用于所述電模型以測定所述水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和所述水溶液中所述二羧酸與所述二胺的摩爾比；并且

基于所述水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和所述水溶液中所述二羧酸與所述二胺的摩爾比的測定值來啟動工藝控制器以調節所述水溶液。

14.一種用于控制水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和二羧酸與二胺的摩爾比的系統，所述系統包含：

在第一溫度下設置在水溶液中的第一探針，所述第一探針產生所述水溶液的電導率或電阻率的第一測量值，所述水溶液包含二羧酸和二胺；

在不同于所述第一溫度的第二溫度下設置在所述水溶液中的第二探針，所述第二探針產生所述水溶液的電導率或電阻率的第二測量值；并且

處理整機電路以：

獲得包含二羧酸和二胺的參比水溶液的電模型，所述電模型將隨溫度而變化的電導率或電阻率與所述參比水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和二羧酸與二胺的摩爾比相關聯；

獲得所述第一測量值；

獲得所述第二測量值；

將所述第一測量值和所述第二測量值應用于所述電模型，以測定所述水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和所述水溶液中所述二羧酸與所述二胺的摩爾比；并且

基于所述水溶液中二羧酸和二胺的總濃度和所述水溶液中所述二羧酸與所述二胺的摩爾比的測定值來啟動工藝控制器以調節所述水溶液。