[發明專利]駐波檢測方法、駐波檢測裝置和電子槍

有效

• 申請號: 201780016672.3
• 申請日: 2017-04-06
• 公開（公告）號: CN108925143B
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 鄧任欽;陳濤;湯一君
• 申請（專利權）人: 深圳市大疆創新科技有限公司
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10
• 代理公司: 北京勵誠知識產權代理有限公司 11647
• 代理人: 趙爽

本發明公開了一種駐波檢測方法。駐波檢測方法用于檢測天線組件(10)的天線(12)的駐波比，駐波檢測方法包括：(S1)獲取天線(12)的測量反射系數；(S2)獲取校準參數；(S3)依據測量反射系數和校準參數計算天線(12)的實際反射系數；和(S4)依據實際反射系數計算天線(12)的駐波比。本發明還公開了一種駐波檢測裝置(20)和電子槍(100)。上述的駐波檢測方法、駐波檢測裝置(20)和電子槍(100)在獲取天線(12)的測量反射系數后，還針對測量反射系數通過校準參數計算實際反射系數，并進一步通過實際反射系數計算天線(12)的駐波比，由此得到的天線(12)駐波比的準確度較高。

技術領域

本發明涉及電子器件技術領域，特別涉及一種駐波檢測方法、駐波檢測裝置和電子槍。

背景技術

天線等無線通信產品需要進行駐波檢測，以得到駐波比并通過駐波比的大小評估產品的質量是否符合需求，通常使用耦合器、檢波器等元器件間接測量產品的駐波比，然而，由于耦合器等元器件本身的精確度難以保證，使得駐波比的測量結果不夠準確。

發明內容

本發明的實施方式提供了一種駐波檢測方法、駐波檢測裝置和電子槍。

本發明實施方式的駐波檢測方法用于檢測天線組件的天線的駐波比，所述方法包括：

獲取所述天線的測量反射系數；

獲取校準參數；

依據所述測量反射系數和所述校準參數計算所述天線的實際反射系數；和

依據所述實際反射系數計算所述天線的駐波比。

本發明實施方式的駐波檢測裝置用于檢測天線組件的天線的駐波比，所述駐波檢測裝置包括處理器，所述處理器用于：

獲取所述天線的測量反射系數；

獲取校準參數；

依據所述測量反射系數和所述校準參數計算所述天線的實際反射系數；和

依據所述實際反射系數計算所述天線的駐波比。

本發明實施方式的電子槍包括天線組件、和與天線組件連接的駐波檢測裝置，所述天線組件包括天線，所述駐波檢測裝置用于檢測所述天線的駐波比，所述駐波檢測裝置包括處理器，所述處理器用于：

獲取所述天線的測量反射系數；

獲取校準參數；

依據所述測量反射系數和所述校準參數計算所述天線的實際反射系數；和

依據所述實際反射系數計算所述天線的駐波比。

上述駐波檢測方法、駐波檢測裝置和電子槍在獲取天線的測量反射系數后，還針對測量反射系數通過校準參數計算實際反射系數，并進一步通過實際反射系數計算天線的駐波比，由此得到的天線駐波比的準確度較高。

本發明的實施方式的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發明的實施方式的實踐了解到。

附圖說明

本發明的上述和/或附加的方面和優點從結合下面附圖對實施方式的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1是本發明實施方式的駐波檢測方法的流程示意圖；

圖2是本發明實施方式的電子槍的模塊示意圖；

圖3是本發明實施方式的駐波檢測方法的流程示意圖；

圖4是本發明實施方式的駐波檢測方法的流程示意圖；

圖5是本發明實施方式的電子槍的模塊示意圖；