[發明專利]用于樣品的分析檢查的測試元件分析系統

有效

• 申請號: 201780016069.5
• 申請日: 2017-03-07
• 公開（公告）號: CN108780057B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: K.黑貝斯特賴特;S.薩克;K.托梅;A.韋勒;R.克納普斯坦;W.海特;S.利德
• 申請（專利權）人: 豪夫邁·羅氏有限公司
• 主分類號: G01N27/327
• 分類號: G01N27/327;A61B5/145;G01N33/49;G01N33/487
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鄒松青;鄧雪萌

1.一種用于樣品的分析檢查的測試元件分析系統（130），所述測試元件分析系統包括：

- 至少一個評估裝置（158），所述評估裝置具有至少一個測試元件固持件（142）和至少一個測量裝置（160），所述測試元件固持件用于定位容納所述樣品的測試元件（110），所述測量裝置用于測量所述測試元件（110）的測量區域（118）中的變化，所述變化表征分析物；

- 至少一個電加熱元件（132），所述電加熱元件被構造成電加熱所述測試元件（110）；

- 至少一個電力供應源（148），所述電力供應源用于向所述電加熱元件（132）供應電能；

- 至少一個溫度傳感器（140），所述溫度傳感器被連接到所述測試元件固持件（142）以用于檢測所述測試元件固持件（142）的溫度；

- 至少一個間隙檢測裝置（150），所述間隙檢測裝置被構造成監測由所述電力供應源（148）供應到所述電加熱元件（132）以用于達到由所述溫度傳感器（140）測量的預定目標溫度的電能E_spez，其中，所述間隙檢測裝置（150）被構造成評估由所述電力供應源（148）供應到所述電加熱元件（132）以用于達到所述預定目標溫度的電能E_spez，并且基于所述電能E_spez的評估來得到關于所述電加熱元件（132）與所述測試元件（110）之間的熱接觸的信息的至少一個條目。

2.根據權利要求1所述的測試元件分析系統（130），其中，所述間隙檢測裝置（150）還被構造成將關于所述電加熱元件（132）與所述測試元件（110）之間的熱接觸的信息的至少一個條目與至少一個閾值進行比較，以便確定是否給出了足夠的熱接觸以用于利用所述測試元件分析系統（130）和被定位在所述測試元件固持件（142）中的測試元件（110）來執行精確測量。

3.根據權利要求2所述的測試元件分析系統（130），其中，所述間隙檢測裝置（150）被構造成用于包括如下的組中的一者或多者：在檢測到所述電加熱元件（132）與所述測試元件（110）之間的熱接觸不足的情況下，中止所述測量、防止所述測量、標示所述測量、以及發出警告。

4.根據權利要求1或2所述的測試元件（110）分析系統（130），其中，所述間隙檢測裝置（150）被構造成將所述電能E_spez或者從其得到的至少一個值與至少一個閾值進行比較，以便確定在所述電加熱元件（132）與所述測試元件（110）之間是否存在足夠的熱接觸。

5.根據權利要求1或2所述的測試元件分析系統（130），其中，所述間隙檢測裝置（150）被構造成將所述電能E_spez標準化以及將所述電能E_spez的標準化值與至少一個閾值進行比較，以便確定在所述電加熱元件（132）與所述測試元件（110）之間是否存在足夠的熱接觸。

6.根據權利要求1或2所述的測試元件分析系統（130），其中，所述間隙檢測裝置（150）包括至少一個數據處理裝置，所述數據處理裝置具有被構造成評估所述電能E_spez的軟件。

7.根據權利要求1或2所述的測試元件分析系統（130），其中，所述間隙檢測裝置（150）包括至少一個能量檢測裝置（151），所述能量檢測裝置被構造成監測由所述電力供應源（148）供應到所述電加熱元件（132）以用于達到由所述溫度傳感器（140）測量的預定目標溫度的電能E_spez，其中，所述能量檢測裝置（151）包括電壓計或電流計中的至少一者。

8.根據權利要求1或2所述的測試元件分析系統（130），其中，所述電加熱元件（132）包括用于所述測試元件（110）的至少一個平坦支撐表面（134）。

9.根據權利要求1或2所述的測試元件分析系統（130），其中，所述測試元件分析系統（130）還包括至少一個測試元件（110）。