[發明專利]用于光信號的光學線性采樣和相干檢測的系統

有效

• 申請號: 201780015497.6
• 申請日: 2017-01-27
• 公開（公告）號: CN108781118B
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: A·沈;J-G·普羅沃斯特
• 申請（專利權）人: 阿爾卡特朗訊
• 主分類號: H04B10/61
• 分類號: H04B10/61
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 酆迅;程延霞

一種用于光信號OS的光學線性采樣和相干檢測的系統，包括：發射脈沖光信號SP的源和將所述脈沖光信號SP分成兩個副本的光耦合器，所述脈沖光信號SP的第一副本被發送到第一光學混合回路并且所述脈沖光信號SP的第二副本被發送到第二光學混合回路，發射光信號OS的源和將輸入光信號OS分成兩個副本的光耦合器，所述輸入光信號OS的第一副本被發送到所述第一光學混合回路，并且所述輸入光信號OS的第二副本被發送到波長恢復設備WVLR，所述波長恢復設備WVLR的輸出是在所述輸入光信號OS的中心波長處的連續波形光信號CW，所述波長恢復設備WVL將連續波形光信號CW發送到所述第二光學混合回路，使得所述光信號OS在所述第一混合回路內被采樣，并且所述連續波形光信號CW在所述第二混合回路中被采樣，以及設備BDADC，包括在所述兩個光學混合回路的所述輸出處檢測光信號的平衡光電探測器和模擬/數字轉換器ADC。

技術領域

本發明涉及光網絡電信領域，更具體地說，涉及用于在診斷和監視設備中使用的高速和具有高級編碼格式的復雜光信號的線性光學采樣或相干檢測的系統。

背景技術

在用于光學線性采樣OLS的方法或設備中，需要高質量的光學本地振蕩器OLO或高質量光信號。可以根據光譜線寬度來測量光學本地振蕩器OLO和光信號的質量。這種光信號的質量也可以通過其相干時間以等效的方式測量。最優質的光信號具有較窄的線寬或較長的相干時間。雖然可以實現高質量的光學本地振蕩器(具有更高成本)，但輸入光信號沒有理由是高質量的，因為大多數時候OLS系統必須測量的光信號OS是未知的。

一種可能的途徑是改進OLS系統，使得輸入光信號的低質量不再對所得到的輸出光信號產生任何影響。

已知的第一方案包括通過在進入原始OLS系統的光信號和進入復制系統的光信號之間引入一個比特的延遲來復制OLS系統的布局。該解決方案的主要缺點之一是必須將一個比特的延遲重新調整為輸入光信號的二進制比特率。因此，這限制了其實際應用，除非實現二進制比特率的自動檢測，并且自動重新調整一個比特的延遲。

另一種已知方案是基于連續光信號或CW(用于“連續波形”)信號和從該輸入CW光信號獲得的經調制的光信號的同時光學線性采樣。進行測量使得兩個光學線性采樣工作也需要OLS系統的復制。然而，在該解決方案中，不執行延遲的重新調整。該解決方案的主要缺點是它不適合通過OLS技術測量任何未知輸入光信號，因為經調制的光信號是在實驗設備內產生的。然而，該解決方案在經調制的光信號或采樣的脈沖光信號的相應質量方面是高度魯棒的。

發明內容

所提出的方案的目標是消除上述缺點，即需要具有可根據第一方案的輸入信號的比特率進行調整的一比特的光學延遲，或者無法測量其他站的未知信號。

本發明的主題是一種用于光信號OS的光學線性采樣和相干檢測的系統，包括：

發射脈沖光信號SP的源和將所述脈沖光信號SP分成兩個副本的光耦合器，所述脈沖光信號SP的第一副本被發送到第一光學混合回路并且所述脈沖光信號SP的第二副本被發送到第二光學混合回路，

發射光信號OS的源和將輸入光信號OS分成兩個副本的光耦合器，所述輸入光信號OS的第一副本被發送到所述第一光學混合回路，并且所述輸入光信號OS的第二副本被發送到波長恢復設備WVLR，所述波長恢復設備WVLR的輸出是在所述輸入光信號OS的中心波長處的連續波形光信號CW，所述波長恢復設備WVL將連續波形光信號CW發送到所述第二光學混合回路，使得所述光信號OS在所述第一混合回路內被采樣，并且所述連續波形光信號CW在所述第二混合回路中被采樣，以及

設備BD-ADC，包括在所述兩個光學混合回路的所述輸出處檢測光信號的平衡光電探測器和模擬/數字轉換器ADC。

該方案依賴于恢復未知輸入光信號的波長，然后同時對經恢復的光信號CW進行采樣的想法，因為經調制的輸入光信號當前也被采樣，使得采樣的最終結果與輸入光信號的相干時間無關，并且也與輸入光信號的二進制比特率無關。