[發明專利]放熱構件用組合物、放熱構件、電子機器及放熱構件的制造方法在審
| 申請號: | 201780015293.2 | 申請日: | 2017-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN108699340A | 公開(公告)日: | 2018-10-23 |
| 發明(設計)人: | 藤原武;服部貴之;稲垣順一;國信隆史;滝沢和宏;上利泰幸;平野寛;門多丈治;岡田哲周 | 申請(專利權)人: | 捷恩智株式會社;地方獨立行政法人大阪產業技術研究所 |
| 主分類號: | C08L83/04 | 分類號: | C08L83/04;C08G59/32;C08K9/04;C08L63/00;C09K5/14 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 李艷;臧建明 |
| 地址: | 日本東京千代田區大手町二丁*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 偶合劑 放熱構件 鍵結 導熱性 倍半硅氧烷 無機填料 電子機器 高耐熱性 硬化處理 導熱率 制造 | ||
1.一種放熱構件用組合物,其特征在于包含:
與第1偶合劑的一端鍵結的導熱性的第1無機填料;及
與第2偶合劑的一端鍵結的導熱性的第2無機填料;
通過硬化處理,所述第1偶合劑的另一端與所述第2偶合劑的另一端分別鍵結于二官能以上的倍半硅氧烷,或者
所述第1偶合劑與所述第2偶合劑的至少一者在其結構中包含倍半硅氧烷,且所述第1偶合劑的另一端與所述第2偶合劑的另一端相互鍵結。
2.根據權利要求1所述的放熱構件用組合物,其中所述第1無機填料與所述第2無機填料為氮化物、金屬氧化物、硅酸鹽化合物、或碳材料。
3.根據權利要求1或2所述的放熱構件用組合物,其中所述第1無機填料與所述第2無機填料為選自氮化硼、氮化鋁、碳化硼、硼碳氮、石墨、碳纖維、碳納米管、氧化鋁、堇青石中的至少一者。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的放熱構件用組合物,其還包含具有與所述第1無機填料及所述第2無機填料不同的熱膨脹率的第3無機填料。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的放熱構件用組合物,其還包含所述第1無機填料及所述第2無機填料所未鍵結的有機化合物或高分子化合物。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的放熱構件用組合物,其中所述二官能以上的倍半硅氧烷為具有氧雜環丙基、氧雜環丙烯基、琥珀酸酐、鄰苯二甲酸酐、或3,4-環氧環己基的倍半硅氧烷。
7.根據權利要求6所述的放熱構件用組合物,其中所述二官能以上的倍半硅氧烷為選自式(1)及式(2)分別所表示的化合物的群組中的化合物。
[化1]
[此處,R獨立地為碳數1~45的烷基、碳數4~8的環烷基、芳基、或芳基烷基;在碳數1~45的烷基中,任意的氫可被氟取代,而且任意的-CH2-可被-O-或-CH=CH-取代;在芳基及芳基烷基中的苯環中,任意的氫可被鹵素或碳數1~10的烷基取代;在所述碳數1~10的烷基中,任意的氫可被氟取代,而且任意的-CH2-可被-O-或-CH=CH-取代;在芳基烷基中的亞烷基中,碳原子的數量為1~10,而且任意的-CH2-可被-O-取代;而且,Y1分別獨立地為式(a)所表示的基團。]
[化2]
[此處,X獨立地為環戊基、環己基、任意的氫可被氟取代,而且一個-CH2-可被-O-取代的碳數1~10的烷基、任意的氫可被鹵素或碳數1~10的烷基取代的苯基、包含任意的氫可被鹵素或碳數1~10的烷基取代的苯基與碳數1~4的亞烷基的苯基烷基、或者具有氧雜環丙基、氧雜環丙烯基、琥珀酸酐、鄰苯二甲酸酐、或3,4-環氧環己基的基團;在作為苯基的取代基的碳數1~10的烷基中,任意的氫可被氟取代,而且任意的-CH2-可被-O-取代;在苯基烷基的亞烷基中,一個-CH2-可被-O-取代;而且,X的至少一者為具有氧雜環丙基、氧雜環丙烯基、琥珀酸酐、鄰苯二甲酸酐、或3,4-環氧環己基的基團。]
[化3]
[此處,R與式(1)中的R具有相同的含義,Y2為式(b)所表示的基團或式(c)所表示的基團。]
[化4]
[此處,在式(b)及式(c)的各式中,X與式(a)中的X具有相同的含義,而且式(c)中的Z為-O-、-CH2-或單鍵。]
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