[發明專利]低熱膨脹構件用組合物、低熱膨脹構件、電子機器及低熱膨脹構件的制造方法在審
| 申請號: | 201780015287.7 | 申請日: | 2017-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN108713042A | 公開(公告)日: | 2018-10-26 |
| 發明(設計)人: | 藤原武;稲垣順一;上利泰幸;平野寛;門多丈治;岡田哲周 | 申請(專利權)人: | 捷恩智株式會社;地方獨立行政法人大阪產業技術研究所 |
| 主分類號: | C08L59/00 | 分類號: | C08L59/00;C08K3/013;C08K7/14;C09K5/14 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 李艷;臧建明 |
| 地址: | 日本東京千代田區大手町二丁*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 低熱膨脹構件 無機填料 偶合劑 鍵結 導熱性 半導體元件 電子機器 高耐熱性 熱膨脹率 硬化處理 導熱率 制造 | ||
1.一種低熱膨脹構件用組合物,其特征在于包含:
與第1偶合劑的一端鍵結的導熱性的第1無機填料;及
與第2偶合劑的一端鍵結的導熱性的第2無機填料;
通過硬化處理,所述第1無機填料與所述第2無機填料經由所述第1偶合劑與所述第2偶合劑而鍵結,
所述熱膨脹控制構件的熱膨脹率各不相同。
2.根據權利要求1所述的低熱膨脹構件用組合物,其中所述第1無機填料與所述第2無機填料為選自由氧化鋁、氧化鎂、氧化鋅、二氧化硅、堇青石、氮化硅、及碳化硅所組成的群組中的至少一者。
3.根據權利要求1或2所述的低熱膨脹構件用組合物,其中所述第1偶合劑與所述第2偶合劑相同。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的低熱膨脹構件用組合物,其還包含具有與所述第1無機填料及所述第2無機填料不同的熱膨脹率的導熱性的第3無機填料。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的低熱膨脹構件用組合物,其還包含所述第1無機填料及所述第2無機填料所未鍵結的有機化合物、高分子化合物、或玻璃纖維。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的低熱膨脹構件用組合物,在所述第1偶合劑的另一端鍵結有二官能以上的聚合性化合物的一端,所述低熱膨脹構件用組合物的特征在于,
通過硬化處理,所述聚合性化合物的另一端鍵結于所述第2偶合劑的另一端。
7.根據權利要求6所述的低熱膨脹構件用組合物,其中所述二官能以上的聚合性化合物為下述式(1-1)所表示的至少一種聚合性液晶化合物;
Ra-Z-(A-Z)m-Ra…(1-1)
[所述式(1-1)中,
Ra分別獨立地為能夠與第1偶合劑及第2偶合劑的另一端的官能基鍵結的官能基;
A為1,4-亞環己基、1,4-亞環己烯基、1,4-亞苯基、萘-2,6-二基、四氫萘-2,6-二基、芴-2,7-二基、雙環[2.2.2]辛-1,4-二基、或雙環[3.1.0]己-3,6-二基,
所述環上,任意的-CH2-可被-O-取代,任意的-CH=可被-N=取代,任意的氫可被鹵素、碳數1~10的烷基、或碳數1~10的鹵化烷基取代,
所述烷基中,任意的-CH2-可被-O-、-CO-、-COO-、-OCO-、-CH=CH-、或-C≡C-取代;
Z分別獨立地為單鍵、或碳數1~20的亞烷基,
所述亞烷基中,任意的-CH2-可被-O-、-S-、-CO-、-COO-、-OCO-、-CH=CH-、-CF=CF-、-CH=N-、-N=CH-、-N=N-、-N(O)=N-、或-C≡C-取代,任意的氫可被鹵素取代;
m為1~6的整數]。
8.根據權利要求7所述的低熱膨脹構件用組合物,其中所述式(1-1)中,A為1,4-亞環己基、任意的氫被鹵素取代的1,4-亞環己基、1,4-亞苯基、任意的氫被鹵素或甲基取代的1,4-亞苯基、芴-2,7-二基、或任意的氫被鹵素或甲基取代的芴-2,7-二基。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于捷恩智株式會社;地方獨立行政法人大阪產業技術研究所,未經捷恩智株式會社;地方獨立行政法人大阪產業技術研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201780015287.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





