[發明專利]用于光線追蹤架構的采樣模式生成的方法和裝置

在審

• 申請號: 201780015016.1
• 申請日: 2017-03-08
• 公開（公告）號: CN108780585A
• 公開（公告）日: 2018-11-09
• 發明（設計）人: D·R·鮑德溫
• 申請（專利權）人: 英特爾公司
• 主分類號: G06T15/06
• 分類號: G06T15/06;G06T1/20;G06T1/60
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 張欣;黃嵩泉

1.一種圖形處理裝置，包括：

光線生成電路，用于從一個或多個圖像塊生成光線流；以及

樣本模式生成電路，用于針對所述光線流中的光線生成樣本，生成的所述樣本在給定幀的各像素之間呈現至少一些隨機性，但在多個幀之間是可重復的。

2.如權利要求1所述的圖形處理裝置，進一步包括：

樣本模式索引，可由所述樣本模式生成電路用于標識存儲在存儲器中的特定樣本模式。

3.如權利要求2所述的圖形處理裝置，其特征在于，標識特定樣本模式包括檢取存儲在所述存儲器中的樣本表的地址。

4.如權利要求3所述的圖形處理裝置，進一步包括：

樣本集索引，用于從所述樣本表中標識特定的一組樣本。

5.如權利要求4所述的圖形處理裝置，其特征在于，所述樣本表包括層級結構布置，所述層級結構布置包括N個層，其中每個層包括M個集群，每個集群包括O個樣本。

6.如權利要求5所述的圖形處理裝置，其特征在于，通過從所述層中的每一個層的一個特定集群讀取所有樣本來形成樣本模式。

7.如權利要求6所述的圖形處理裝置，其特征在于，所述樣本表包括8個層，每個層具有8個集群，并且每個集群4個樣本。

8.如權利要求4所述的圖形處理裝置，其特征在于，所述特定樣本模式將基于以下各項中的一項或多項來選擇：每個光源的不同形狀、不同材料的不同雙向反射分布函數(BRDF)、以及針對環境遮蔽的余弦加權半球采樣模式。

9.如權利要求1所述的圖形處理裝置，進一步包括：

交叉電路，用于執行每條光線針對一個或多個基元的交叉測試，以生成交叉結果。

10.如權利要求9所述的圖形處理裝置，進一步包括：

多個著色器，用于被分派成對所述交叉結果執行著色操作。

11.一種系統，包括：

存儲器，用于存儲數據和程序代碼；

中央處理單元(CPU)，包括用于高速緩存所述程序代碼的一部分的指令高速緩存，和用于高速緩存所述數據的一部分的數據高速緩存，所述CPU進一步包括執行邏輯，用于執行所述程序代碼中的至少一些，并響應地處理所述數據中的至少一些，所述程序代碼中的至少一部分包括圖形命令；

圖形處理子系統，用于處理所述圖形命令并響應地渲染多個圖像幀，所述圖形處理子系統包括：

光線生成電路，用于從一個或多個圖像塊生成光線流；以及

樣本模式生成電路，用于針對所述光線流中的光線生成樣本，生成的所述樣本在給定幀的各像素之間呈現至少一些隨機性，但在多個幀之間是可重復的。

12.如權利要求11所述的系統，進一步包括：

樣本模式索引，可由所述樣本模式生成電路用于標識存儲在存儲器中的特定樣本模式。

13.如權利要求12所述的系統，其特征在于，標識特定樣本模式包括檢取存儲在所述存儲器中的樣本表的地址。

14.如權利要求13所述的系統，進一步包括：

樣本集索引，用于從所述樣本表中標識特定的一組樣本。

15.如權利要求14所述的系統，其特征在于，所述樣本表包括層級結構布置，所述層級結構布置包括N個層，其中每個層包括M個集群，每個集群包括O個樣本。

16.如權利要求15所述的系統，其特征在于，通過從所述層中的每一個層的一個特定集群讀取所有樣本來形成樣本模式。