[發明專利]直接接觸儀器校準系統

在審

• 申請號: 201780009276.8
• 申請日: 2017-02-01
• 公開（公告）號: CN109997191A
• 公開（公告）日: 2019-07-09
• 發明（設計）人: R·泰伊;D·V·威廉姆斯;S·J·埃文斯
• 申請（專利權）人: 生物輻射實驗室股份有限公司
• 主分類號: G12B13/00
• 分類號: G12B13/00;G01J1/02;G01J3/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 金紅蓮;姬利永

系統和方法，其用于校準具有工具以及工作表面的儀器。示例性儀器可以包括支撐構件，該支撐構件包括導電表面。所述儀器也可以包括流體傳輸設備，該流體傳輸設備包括具有開口端的導電管。所述儀器的驅動機構可以包括電機，該電機可操作用于沿軸相對于彼此驅動所述表面以及所述管的移動并使其彼此接觸。所述儀器的電路可以包括電壓源以及所述管。控制模塊可以被配置為基于在所述電路的電特性中感測到的變化沿軸校準所述驅動機構與所述管和/或表面的位置之間的關系，該變化在所述管以及所述表面彼此接觸時發生。

優先權申請的交叉引用

本申請根據35 U.S.C.§1 19(e)、基于并且要求于2016年2月1日提交的美國臨時專利申請序列號62/289,908的權益，出于所有目的其全部內容通過引用并入本文。

其他材料的交叉引用

以下相關申請和材料的全部內入并入本文，出于所有目的：2006年5月9日授權的美國專利No.7,041,481；2010年7月8日公開的美國專利申請公開No.2010/0173394A1；2012年6月21日公開的美國專利申請公開No.2012/0152369A1；2012年7月26日公開的美國專利申請公開No.2012/0190032A1；2012年8月2日公開的美國專利申請公開No.2012/0194805A1；美國專利和Joseph R.Lakowicz，熒光光譜原理(第2版，1999年)(U.S.Patentand Joseph R.Lakowicz,PRINCIPLES OF FLUORESCENCE SPECTROSCOPY(2nd Ed.1999))。

技術領域

本公開涉及使用自動化過程來校準儀器以直接確定工具與工作表面之間的機械關系的的系統以及方法。

背景技術

通常使用運動軸上的傳感器來校準儀器以提供固定的基準點。校準通常要求校準模式和/或經過專門培訓的人員。相應地，一般在工廠中或技師呼叫服務期間，可能僅僅是偶爾進行校準。相應地，存在對改進的以及自動化的校準方法以及系統的需求。

發明內容

提供用于校準具有工具以及工作表面的儀器的系統和方法。示例性儀器可以包括支撐構件，該支撐構件包括導電表面。儀器也可以包括流體傳輸設備，該流體傳輸設備包括具有開口端的導電管。儀器的驅動機構可以包括電機，該電機可操作用于驅動表面和管相對于彼此的沿軸的移動并使其彼此相接觸。儀器的電路可以包括電壓源以及管。控制模塊可以被配置為基于在電路的電特性的所感測到的變化沿軸校準驅動機構與管或表面的位置之間的關系，該變化在管以及表面彼此接觸時發生。

附圖說明

圖1是根據本公開的各方面的具有直接接觸校準系統的說明性儀器的示意性框圖；

圖2是根據本公開的各方面的說明性分壓電路以及比較電路的電路圖。

圖3-5是示出包括圖1的儀器的各方面的說明性分壓電路的電路圖。

圖6-7是示出圖2的比較電路的不同實施例的示意圖。

圖8是描繪用于校準具有直接接觸校準系統的儀器的說明性過程的步驟的流程圖。

具體實施方式

綜述