[發明專利]傳感器

在審

• 申請號: 201780008032.8
• 申請日: 2017-02-14
• 公開（公告）號: CN108603770A
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: H.安克爾
• 申請（專利權）人: 大陸-特韋斯股份有限公司
• 主分類號: G01D5/22
• 分類號: G01D5/22;G01B7/00
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 湯國華

1.一種傳感器(1)，具有：

-電路載體(10)；

-多個測量電感(20，21，22，23，24)，被施加到所述電路載體(10)；以及

-參考電感(12)，耦合至所述測量電感(20，21，22，23，24)。

2.如權利要求1所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)與所述參考電感(12)電絕緣。

3.如前述權利要求中任一項所述的傳感器(1)，

-所述傳感器被配置為線性位置傳感器。

4.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)沿路徑、具體地為直線路徑或者弧或圓弧而被施加到所述電路載體(10)。

5.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，

-所述傳感器還具有測量本體(11)，所述測量本體可以相對于所述電路載體(10)而移動。

6.如權利要求4和權利要求5所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量本體(11)可以與所述測量電感(20，21，22，23，24)的所述路徑平行地、具體是排他地平行地移動。

7.如權利要求5和6中任一項所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量本體(11)是鐵磁的和/或導電的。

8.如權利要求5至7之一所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量本體(11)與所述測量電感(20，21，22，23，24)和/或與所述參考電感(12)間隔開對應的氣隙。

9.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)位于所述參考電感(12)內，和/或其中，所述參考電感(12)圍繞所述電路載體(10)。

10.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，

-其中，所述參考電感(12)在電流流過時產生磁場，所述磁場穿透所述測量電感(20，21，22，23，24)并且優選地通過所述測量本體(11)根據所述測量本體(11)的位置而發生改變。

11.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)使用SMD技術而被施加到所述電路載體(10)。

12.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)中的至少一些串聯和/或并聯地電互連。

13.如前述權利要求之一所述的傳感器(1)，所述傳感器還具有：

-電容(CP)，所述電容與所述參考電感(12，LP)互連以形成并聯諧振電路，以及

-電子控制單元(mC)，

-其中，所述電子控制單元(mC)直接連接至所述并聯諧振電路，并且被配置用于以從所述電子控制單元的時鐘推導出的激發頻率將所述并聯諧振電路激發至振蕩，并且

-其中，所述電子控制單元(mC)直接連接至所述測量電感(20，21，22，23，24，LS)中的每一個，并且被配置用于在所述對應測量電感(20，21，22，23，24，LS)處測量指示測量變量的值。

14.如權利要求13所述的傳感器(1)，

-其中，所述電子控制單元(mC)被配置：

-用于確定受測量本體(11)影響的測量電感(20，21，22，23，24，LS)，并且隨后

-用于基于在所述測量電感(20，21，22，23，24，LS)處的測量結果來確定所述測量本體(11)的位置。

15.如權利要求1至12之一所述的傳感器(1)，

-所述傳感器具有多個測量電感(20，21，22，23，24)，

-其中，每一個測量電感具有與其相關聯的磁芯，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)沿著路徑被安排，

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)串聯地電連接，并且

-其中，所述測量電感(20，21，22，23，24)具有沿著所述路徑在一個方向上增大的對應電感。