[發明專利]一種放大電路及激光測量裝置、移動平臺有效
| 申請號: | 201780004466.0 | 申請日: | 2017-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN108700648B | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發明(設計)人: | 劉祥;占志鵬;蒲文進;洪小平 | 申請(專利權)人: | 深圳市大疆創新科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/4861 | 分類號: | G01S7/4861;G01S7/489;G01S17/10 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市南山區高*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 放大 電路 激光 測量 裝置 移動 平臺 | ||
1.一種激光測量裝置,其特征在于,包括:
發射管,用于發射光脈沖信號;
接收管,用于接收經障礙物反射的光脈沖信號,將所述接收到的反射的光脈沖信號轉化為電信號;
放大電路,用于對來自所述接收管的電信號進行調整;
比較電路,用于將所述放大電路調整后的信號轉換為數字信號;
控制器,用于根據所述數字信號計算所述激光測量裝置與所述障礙物的距離;
其中,所述放大電路包括運算放大器模塊和調整模塊;所述調整模塊位于所述運算放大器模塊的前級電路、后級電路或反饋電路中的至少一處,用于對所述放大電路的輸入信號的放大倍數進行調整,使得所述放大電路以調整后的放大倍數對所述輸入信號的能量進行放大后輸出;
所述調整模塊包括第一鉗位模塊,所述第一鉗位模塊包括第一二極管以及第一電阻;所述第一二極管的第一端通過所述第一電阻連接所述運算放大器模塊的第一輸入端;所述第一二極管的第二端連接第一參考電平;所述放大電路的輸入端連接所述第一二極管的第一端與所述第一電阻的公共端,當所述放大電路的輸入信號超過所述第一二極管的導通壓降時,所述第一二極管導通,進而避免所述運算放大器模塊的飽和,使得當所述放大電路的輸入信號的能量大于閾值時,所述輸入信號的能量越大,所述放大電路對所述輸入信號的放大倍數越小。
2.如權利要求1所述的激光測量裝置,其特征在于,所述第一鉗位模塊位于所述運算放大器模塊的前級電路上,所述第一鉗位模塊連接所述運算放大器模塊的第一輸入端;
所述第一鉗位模塊用于對所述運算放大器模塊的輸入信號進行調整。
3.如權利要求1所述的激光測量裝置,特征在于,所述調整模塊還包括第二鉗位模塊;所述第二鉗位模塊位于所述運算放大器模塊的后級電路上,所述第二鉗位模塊連接所述運算放大器模塊的輸出端;
所述第二鉗位模塊用于對所述運算放大器模塊的輸出信號進行調整。
4.如權利要求3所述的激光測量裝置,特征在于,所述第二鉗位模塊包括:第二二極管;所述第二二極管的第一端連接所述運算放大器模塊的輸出端;所述第二二極管的第二端連接第二參考電平;所述放大電路的輸出端連接所述第二二極管與所述運算放大器模塊的輸出端的公共端。
5.如權利要求3所述的激光測量裝置,特征在于,所述第二鉗位模塊包括:第二二極管以及第二電阻;所述第二二極管的第一端通過所述第二電阻連接所述運算放大器模塊的輸出端;所述第二二極管的第二端連接第二參考電平;所述放大電路的輸出端的連接所述第二二極管與所述第二電阻的公共端。
6.如權利要求1所述的激光測量裝置,特征在于,所述調整模塊還包括第三鉗位模塊,所述第三鉗位模塊位于所述運算放大器模塊的反饋電路上;所述運算放大器模塊的第一輸入端連接所述第三鉗位模塊的第一端口;所述運算放大器模塊的第二輸入端連接第三參考電平;所述放大器模塊的輸出端連接所述第三鉗位模塊的第二端口;
所述第三鉗位模塊具體用于:在輸入所述運算放大器模塊的信號的能量信息大于第一閾值時,減小所述運算放大器模塊對所述運算放大器模塊的輸入信號的放大倍數。
7.如權利要求6所述的激光測量裝置,特征在于,所述第三鉗位模塊包括第三二極管;所述第三二極管的第一端連接所述運算放大器模塊的第一輸入端;所述第三二極管的第二端連接所述運算放大器模塊的輸出端。
8.如權利要求6所述的激光測量裝置,特征在于,所述第三鉗位模塊包括第三二極管及第三電阻;所述第三二極管的第一端連接所述運算放大器模塊的第一輸入端;所述第三二極管的第二端連接所述運算放大器模塊的輸出端;所述第三電阻與所述第三二極管并聯。
9.如權利要求6所述的激光測量裝置,特征在于,所述第三鉗位模塊包括第三二極管、第三電阻、第四電阻;所述第三二極管的第一端通過所述第三電阻連接至所述放大器模塊的第一輸入端,所述第三二極管的第二端連接至所述運算放大器模塊的輸出端,所述第四電阻與所述第三二極管并聯。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市大疆創新科技有限公司,未經深圳市大疆創新科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201780004466.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:利用成像器的遙測方法和系統
- 下一篇:用于檢測激光光斑的設備





