[發(fā)明專利]用于異形元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780001801.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-11-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108076659B | 公開(公告)日: | 2020-11-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳加富;繆磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州富強(qiáng)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01M13/00;F16J15/06 |
| 代理公司: | 北京遠(yuǎn)大卓悅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 韓飛 |
| 地址: | 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 異形 元器件 高壓 水密 性功能 測(cè)試儀 | ||
本發(fā)明公開了一種用于異形元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái),包括:基座,該基座上設(shè)有向上凸起的連接部及用于放置待測(cè)元器件的載物臺(tái);以及根部與連接部相鉸接的蓋板,蓋板上開設(shè)有貫穿其上下表面的讓位孔,其中,蓋板可繞連接部在豎直平面內(nèi)往復(fù)轉(zhuǎn)動(dòng)從而將放置于載物臺(tái)上的待測(cè)元器件選擇性地壓緊,當(dāng)蓋板將放置于載物臺(tái)上的待測(cè)元器件壓緊時(shí),待測(cè)元器件的上部可以穿過讓位孔。根據(jù)本發(fā)明,其通過提高測(cè)試過程密封性來提高測(cè)試異形元器件高壓水密性功能測(cè)試的成功率,此外還能能提高測(cè)試效率及測(cè)試精確度,具有較廣闊的應(yīng)用前景。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及元器件高壓水密性功能測(cè)試領(lǐng)域,特別涉及一種用于異形元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái)。
背景技術(shù)
對(duì)于一些元器件,往往在生產(chǎn)完成后至出廠前,需要對(duì)其進(jìn)行高壓下的水密性功能測(cè)試,例如測(cè)試一些力學(xué)性能及電學(xué)性能是否滿足設(shè)計(jì)需求及產(chǎn)品質(zhì)量要求。
在現(xiàn)有的元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái)中,大多數(shù)僅僅能夠針對(duì)于外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、規(guī)范的元器件,而對(duì)一些外形結(jié)構(gòu)復(fù)雜、形狀不唯一的異性元器件來說,往往面臨在測(cè)試過程中出現(xiàn)由于密封性較差導(dǎo)致的測(cè)試失敗。
有鑒于此,實(shí)有必要開發(fā)一種用于異形元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái),用以解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足之處,本發(fā)明的目的是提供一種用于異形元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái),其通過提高測(cè)試過程密封性來提高測(cè)試異形元器件高壓水密性功能測(cè)試的成功率,此外還能能提高測(cè)試效率及測(cè)試精確度,具有較廣闊的應(yīng)用前景。
為了實(shí)現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的上述目的和其他優(yōu)點(diǎn),提供了一種用于異形元器件高壓水密性功能測(cè)試儀的載臺(tái),包括:
基座,該基座上設(shè)有向上凸起的連接部及用于放置待測(cè)元器件的載物臺(tái);以及
根部與連接部相鉸接的蓋板,蓋板上開設(shè)有貫穿其上下表面的讓位孔,
其中,蓋板可繞連接部在豎直平面內(nèi)往復(fù)轉(zhuǎn)動(dòng)從而將放置于載物臺(tái)上的待測(cè)元器件選擇性地壓緊,當(dāng)蓋板將放置于載物臺(tái)上的待測(cè)元器件壓緊時(shí),待測(cè)元器件的上部可以穿過讓位孔。
優(yōu)選的是,載物臺(tái)上開設(shè)有用于容納待測(cè)元器件的容納槽。
優(yōu)選的是,容納槽的底部開設(shè)有沿豎直方向延伸的檢測(cè)通孔,檢測(cè)通孔中嵌設(shè)有探針。
優(yōu)選的是,容納槽上設(shè)有覆蓋有密封組件,該密封組件包括:
密封板;以及
設(shè)于密封板與載物臺(tái)之間的頂部密封圈,
其中,密封板中開設(shè)有允許待測(cè)元器件的上部通過的密封通孔,頂部密封圈環(huán)繞地設(shè)置于容納槽的外周,密封通孔分別與讓位孔及及容納槽相互連通。
優(yōu)選的是,密封通孔的內(nèi)側(cè)設(shè)有一圈與待測(cè)元器件彈性接觸的緩沖圈,密封板、頂部密封圈及緩沖圈三者全部一體式地結(jié)合成統(tǒng)一整體。
優(yōu)選的是,基座的旁側(cè)還設(shè)有用于將蓋板選擇性壓緊的壓緊組件,該壓緊組件與蓋板的端部相對(duì)設(shè)置。
優(yōu)選的是,壓緊組件包括:
固定座;
根部與固定座轉(zhuǎn)動(dòng)連接的轉(zhuǎn)軸;以及
與轉(zhuǎn)軸的頂部相固接的壓板,
其中,壓板呈L字形結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選的是,蓋板的端部上表面設(shè)有一向下傾斜的引導(dǎo)斜面。
優(yōu)選的是,基座的底部嵌設(shè)有底部密封圈,該底部密封圈環(huán)繞地設(shè)置于檢測(cè)通孔的外周。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,其有益效果是:
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