[發明專利]X射線檢測系統、X射線裝置及處理X射線檢測數據的裝置和方法有效
| 申請號: | 201780001694.2 | 申請日: | 2017-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN108271411B | 公開(公告)日: | 2021-10-15 |
| 發明(設計)人: | 山河勉;山本修一郎;山崎雅志;岡田雅宏 | 申請(專利權)人: | 株式會社蛟簿 |
| 主分類號: | G01N23/046 | 分類號: | G01N23/046;G01N23/18;G01N23/083 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 何欣亭;李嘯 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 檢測 系統 裝置 處理 數據 方法 | ||
本發明避免將從傾斜配置的檢測器輸出的幀數據轉換到重建用坐標系時的電路結構大型化,并減少處理量。X射線裝置具備二維像素排列,該二維像素排列沿著構成第一正交坐標系的行方向及列方向配置有多個輸出響應于入射X射線的光子的電信號的、方形的規定尺寸的像素。該排列的行方向相對于掃描方向傾斜配置。在該排列中,從掃描方向的兩端中的任意一端觀察時,相當于“M列×N個(M為1以上的正整數,N為2以上的正整數,并且M、N為互質關系)”的像素群單獨或反復出現,并且各該像素群所構成的四邊形的對角線與所述掃描方向平行。在每個周期,將從像素輸出的幀數據轉換成,由以掃描方向為行方向和與該行方向正交的列方向構成的、存儲空間上的第二正交坐標系的幀數據。
技術領域
本發明涉及檢測從X射線源照射并透過對象物的X射線的檢測器以及處理由該檢測器檢測出的X射線數據的數據處理裝置,尤其涉及相對于X射線的掃描方向傾斜地具有二維配置的X射線檢測像素的檢測器以及處理由該檢測器檢測出的X射線數據的數據處理裝置。
背景技術
近年來,從公共衛生和食品安全的觀點出發,對有可能包含在食品內部的異物進行檢查的必要性不斷提高。
對于該X射線檢查也有很多方法,但其中備受矚目的檢查方法是使用X射線來收集食品內部的物質信息的方法。作為其中的一個例子,已知所謂的直列(in-line)式X射線檢查裝置,在該直列式X射線檢查裝置中,將X射線管和檢測器配置成隔著搬送用的傳送帶對置,并通過X射線檢查載置于傳送帶上的作為檢查對象的食品。在該裝置的情況下,作為檢查對象的食品被載置于傳送帶(線)上進行搬送,并經過X射線管的X射線照射域。使此時的X射線的掃描方向與傳送帶的搬送方向一致。
這樣,當食品經過X射線管與檢測器之間的空間(對象空間)時,通過傳送帶下側的檢測器檢測透過食品的X射線。通過計算機等的處理裝置,根據該檢測數據制作圖像。例如通過軟件對該圖像進行圖像處理,由此能夠發現是否存在有可能混入到該食品內部的異物及其種類。另外,檢查對象不僅限于異物,也可以是在X射線下產生有意的對比度差并且需要更精確地求出大小和形狀或者重量的對象物。
作為這種可搭載于X射線檢查裝置的檢測器,已知專利文獻1中記載的X射線檢測器。該X射線檢測器是具備多個模塊的放射線檢測器,所述模塊具有多個構成各像素的檢測元件。各像素將入射X射線轉換成與其放射劑量相應的電信號的數據。在該檢測器中,該X射線檢測器的掃描方向被設定為第一X軸和與該第一X軸正交的第一Y軸中的一個軸的方向。多個模塊沿著第一X軸以及第一Y軸中的至少一個軸在同一面上以已知寬度的間隔彼此相鄰地排列。多個模塊各自的多個檢測元件相對于第一X軸(以及第一Y軸)分別傾斜地設定,并且沿著相互正交的第二X軸和第二Y軸二維地排列。
更加具體而言,該專利文獻1中記載的X射線檢測器的目的在于,減少X射線量和補償模塊之間的間隙中的像素缺失即所謂的GAP修正。為實現該目的,將多個模塊相對于掃描方向傾斜地配置。由此,各模塊的像素也相對于掃描方向傾斜地配置,因此,掃描時對相當于模塊之間的間隙的部分也賦予像素值,能夠大幅減輕由檢測器的非感應區對圖像產生的影響。
在先技術文獻
專利文獻
專利文獻1:國際公開第2012/086648號
專利文獻2:美國專利第5,952,646號說明書
專利文獻3:日本特開2010-125249號公報
專利文獻4:日本特開2000-069369號公報
專利文獻5:日本特開2004-325183號公報
專利文獻6:日本特開2006-101926號公報
通常,還有很多如專利文獻1中記載的X射線檢測器那樣相對于掃描方向傾斜地配置模塊、即構成模塊的像素群的例子。例如,可列舉專利文獻2~6中記載的技術。
發明內容
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