[發明專利]錐形射束計算機斷層攝影投影值提供系統和方法

有效

• 申請號: 201780001069.8
• 申請日: 2017-01-19
• 公開（公告）號: CN107427272B
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: M·格拉斯;R·普羅克紹
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/03
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 孟杰雄;王英

1.一種用于提供對象的錐形射束計算機斷層攝影投影值的錐形射束計算機斷層攝影投影值提供系統，所述系統包括：

-用于提供探測值的探測值提供設備(12)，所述探測值在旋轉設備(1、8)使得至少輻射設備(40)和所述對象繞旋轉軸(R)相對于彼此旋轉時通過使用所述輻射設備(40)和探測器(6)已經生成，其中，所述輻射設備(40)適于提供由X射線(21；34)形成的錐形射束(4)，并且所述探測器(6)包括探測元件(20)的三維布置，其中，所述探測元件(20)被布置用于被所述X射線(21；34)穿過，并且適于生成取決于已經穿過所述探測元件(20)的所述X射線(21；34)的探測值，

-用于確定投影值的投影值確定設備(13)，其中，所述投影值確定設備(13)適于基于由被X射線穿過的探測元件(20)生成的探測值而不是基于由未被所述X射線穿過的探測元件(20)生成的探測值來確定針對所述X射線的投影值。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，所述探測元件(20)在所述錐形射束(4)的扇形方向上與所述X射線(21；34)對齊，并且在所述錐形射束(4)的錐形方向上與所述X射線(21；34)不對齊。

3.根據權利要求2所述的系統，其中，所述探測器(6)包括探測元件(20)的若干二維布置，其中，探測元件(20)的每個二維布置形成探測元件(20)的各自的平面(23)，其中，探測元件(20)的所述平面(23)平行于所述旋轉軸(R)，并且在扇形方向上與所述X射線(21；34)對齊，并且在錐形方向上與所述X射線(21；34)不對齊。

4.根據權利要求3所述的系統，其中，探測元件(20)的所述平面(23)在扇形方向上被連續地布置并被交替地移位，使得所述平面(23)被交替地布置在第一位置處和第二位置處，其中，所述第一位置比所述第二位置更靠近所述輻射設備(40)。

5.根據權利要求1所述的系統，其中，所述輻射設備(40)適于提供所述錐形射束(4)，使得所述錐形射束從不同的發射位置交替地發射，所述不同的發射位置被布置為沿著平行于所述旋轉軸(R)的方向相對于彼此具有一偏移。

6.根據權利要求1所述的系統，其中，所述探測器(6)和所述投影值確定設備(13)適于使得各自的投影值指示所述X射線的光子數量。

7.根據權利要求6所述的系統，其中，所述探測器(6)和所述投影值確定設備(13)適于使得所述各自的投影值指示處于各自的能量范圍內的各自的X射線的光子數量，以便提供譜投影值。

8.根據權利要求7所述的系統，其中，所述各自的能量范圍取決于已經生成了這樣的各自的探測值的各自的探測元件(20)的深度：對所述各自的投影值的所述確定基于所述各自的探測值。

9.根據權利要求7所述的系統，其中，所述各自的能量范圍取決于所述各自的X射線從所述探測器(6)的入射表面到已經生成了這樣的各自的探測值的所述各自的探測元件(20)的長度：對所述各自的投影值的所述確定基于所述各自的探測值。

10.根據權利要求7所述的系統，其中，所述各自的能量范圍取決于所述各自的X射線的錐形角。

11.根據權利要求1所述的系統，其中，所述探測器(6)是直接轉換半導體探測器。

12.根據權利要求1所述的系統，其中，所述系統還包括重建設備(14)，所述重建設備用于基于所確定的投影值來重建計算機斷層攝影圖像。