[發明專利]高精度球體尺寸測量裝置和球體研磨裝置

有效

• 申請號: 201780000879.1
• 申請日: 2017-02-07
• 公開（公告）號: CN107295797B
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 西出拓史;門谷憲太
• 申請（專利權）人: 株式會社天辻鋼球制作所
• 主分類號: B24B49/02
• 分類號: B24B49/02;B24B11/06
• 代理公司: 北京律和信知識產權代理事務所(普通合伙) 11446
• 代理人: 武玉琴;劉國偉

本發明提供一種高精度球體尺寸測量裝置，其包括：球體尺寸測量部(15)，對加工途中的被測量球和與所述被測量球的材質相同且具有所述被測量球的指標直徑的標準球分別進行直徑測量；尺寸差計算部(161)，求出被測量球的直徑和標準球的直徑的尺寸差；判斷部(162)，將求出的尺寸差與閾值進行比較，判斷被測量球的直徑是否達到了指標值。

技術領域

本發明涉及球的加工裝置中所裝備的高精度球體尺寸測量裝置和具備該高精度球體尺寸測量裝置的球體研磨裝置。

背景技術

用于球軸承等的鋼球和陶瓷球這類球體要由球體研磨裝置來制造。而球體研磨裝置具備測量球的尺寸的球體尺寸測量裝置，選出加工途中的一部分球體作為被測量球體，用球體尺寸測量裝置測量其尺寸。球體研磨裝置的加工動作根據測量出的球體直徑來控制。例如在專利文獻1中公開有如下內容：到被測量球體的直徑達到規定值為止進行重視效率的加工，在被測量球體的直徑達到規定值后進行重視質量的加工。

此外，在專利文獻2中公開有如下內容：在球體尺寸測量裝置設有使被測量球體的姿態進行改變的姿態改變機構，根據多個部位的測量值算出平均直徑來提高測量精度。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利公開公報之實開平6-5858號公報

專利文獻2：日本專利公報之特許第5768485號公報

發明內容

本發明要解決的技術問題

專利文獻2的球體尺寸測量裝置用于測量被測量球體的直徑的實際尺寸。但是，被加工的球體受研磨產生的熱量等影響而發生溫度變化，在從加工作業開始到結束為止的整個期間內難以一直將被測量球體的溫度保持恒定。一旦被測量球體的溫度發生變化，則其尺寸也發生變化，因而這種測量被測量球體的實際尺寸的方法存在下述問題：因測量時機的不同會導致產生測量精度的偏離(ばらつき)。此外，在施加測量力測量實際尺寸的方法中，由于測量力和鋼球質量的影響而產生彈性變形，因而為了克服該彈性變形的影響并提高測量精度，需要進行修正計算(JIS B1501-2009附錄JB的內容)。但是，這樣的修正計算需要極其繁雜的計算，并且對于精度提高幫助有限。測量精度的偏離當然會對最終產品的尺寸精度造成不良影響。本發明正是鑒于上述問題而提出，本發明的目的在于提供能夠抑制測量精度偏離的高精度球體尺寸測量裝置和球體研磨裝置。

解決技術問題的技術方案

為了解決上述問題，本發明提供一種高精度球體尺寸測量裝置，其裝備于對球進行加工的球體研磨裝置中，所述高精度球體尺寸測量裝置包括：尺寸差計算部，求出在所述球體研磨裝置中加工途中的被測量球的直徑與標準球的直徑的尺寸差，所述標準球的材質與所述被測量球的材質相同并且所述標準球具有所述被測量球的指標直徑；以及判斷部，將所述尺寸差與閾值進行比較，判斷所述被測量球的直徑是否達到了指標值。

按照該構成，標準球使用材質與被測量球的材質相同并且具有被測量球的指標直徑的球。因此，通過采用根據被測量球和標準球的測量值計算出的尺寸差，能夠克服彈性變形對測量精度造成的不利影響。而且通過在相同的環境下進行被測量球和標準球的測量，也能夠克服球的膨脹或收縮對測量精度造成的不好影響。由此，所述高精度球體尺寸測量裝置能夠在從研磨作業的開始到結束為止的整個期間中進行沒有偏離的高精度測量。

此外，所述高精度球體尺寸測量裝置可以采用下述的構成：還包括球體尺寸測量部，所述球體尺寸測量部分別針對所述被測量球和所述標準球進行測量，測量各自在直徑上加上確定的固定值合起計算所得到的直徑參數，所述尺寸差計算部將用所述球體尺寸測量部測量出的所述被測量球的直徑參數與所述標準球的直徑參數之差作為所述尺寸差計算出來。