[實用新型]集成電路測試系統有效
| 申請號： | 201721921792.1 | 申請日： | 2017-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN207799022U | 公開（公告）日： | 2018-08-31 |
| 發明（設計）人： | 葉劍文 | 申請（專利權）人： | 杭州友旺電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人： | 趙囡囡 |
| 地址： | 310012 浙*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 集成電路測試系統 核心控制模塊 測試系統主機 用戶測試 本實用新型 測試條件 程控電壓 待測器件 電流源 地址數據總線 測試參數 存儲測試 功能單一 輸出電流 數據連接 自動測試 控制器 輸出端 | ||
1.一種集成電路測試系統，其特征在于，包括：
測試系統主機；
核心控制模塊，通過數據連接控制器與所述測試系統主機相連接；
程控電壓電流源，通過地址數據總線與所述核心控制模塊相連接，用于輸出電流；
用戶測試卡，與所述程控電壓電流源相連接，用于存儲測試參數和測試條件；
待測器件，連接在所述用戶測試卡的輸出端，并且與所述核心控制模塊相連接，
其中，所述測試系統主機通過所述核心控制模塊按照所述用戶測試卡中的所述測試參數和所述測試條件對所述待測器件執行自動測試。
2.根據權利要求1所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述集成電路測試系統包括承載設備，連接在所述用戶測試卡的輸出端，并且與所述核心控制模塊相連接，用于承載所述待測器件，以便對所述待測器件執行自動測試。
3.根據權利要求2所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述承載設備包括分選機或者探針臺。
4.根據權利要求1所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述集成電路測試系統包括信號源，所述信號源連接在所述用戶測試卡的輸入端，并且與所述測試系統主機相連接，用于控制所述信號源輸出不同頻率的信號對所述待測器件進行測試。
5.根據權利要求1所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述集成電路測試系統包括電子測量設備，連接在所述用戶測試卡的輸出端，并且與所述測試系統主機相連，用于采集對所述待測器件進行測試時得到的參數。
6.根據權利要求5所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述電子測量設備至少包括以下至少之一：
示波器、萬用表和功率分析儀。
7.根據權利要求1所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述集成電路測試系統還包括：
電源及報警模塊，通過所述地址數據總線與所述程控電壓電流源連接，用于向所述程控電壓電流源提供電流。
8.根據權利要求1所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述集成電路測試系統還包括：
任意波形發生器，通過所述地址數據總線連接在所述核心控制模塊和輸出接口模塊之間，其中，所述任意波形發生器由電源及報警模塊供電，所述輸出接口模塊連接所述用戶測試卡。
9.根據權利要求1所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述程控電壓電流源為多個。
10.根據權利要求5所述的集成電路測試系統，其特征在于，所述電子測量設備通過通用接口總線GPIB與所述測試系統主機相連接。
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