[實用新型]一種新型集成電路測試模塊多級柔性盲插結構

有效

• 申請號: 201721895808.6
• 申請日: 2017-12-29
• 公開（公告）號: CN207691111U
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 鐘景華;周履亮
• 申請（專利權）人: 南京國睿安泰信科技股份有限公司
• 主分類號: H01R13/631
• 分類號: H01R13/631;H01R13/627;H01R13/518;H01R24/00;G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 高嬌陽

本實用新型公開了一種新型集成電路測試模塊多級柔性盲插結構，包括框架主體、多級盲插模塊、pcb彈性導軌。所述的pcb彈性導軌上設有彈性卡槽、自鎖柱。所述的框架主體上設有盲插插座Ⅰ、盲插插座Ⅱ、定位孔、導軌座。所述的多級盲插模塊上設有盲插插頭Ⅰ、盲插插頭Ⅱ、裝配面、鎖緊機構。自鎖柱插定位孔，pcb彈性導軌通過定位孔和自鎖柱連接在框架主體上；裝配面插在彈性卡槽上，起到彈性導向定位的作用；盲插插頭Ⅰ、盲插插頭Ⅱ分別與盲插插座Ⅰ、盲插插座Ⅱ對接；鎖緊機構鎖緊在框架主體的導軌座上。彈性pcb導軌消除了相應的加工和裝配誤差，從而提高了多級盲插模塊安裝的合格率和高效性。

技術領域

本實用新型涉及一種盲插結構，尤其涉及一種新型集成電路測試模塊多級柔性盲插結構。

背景技術

一般集成電路測試模塊多級盲插在安裝過程中，因模塊本身的結構尺寸偏大、裝配關系復雜，其中加工和裝配的累計誤差比較大，同時單通道上是多個接插件同時需要對接，所以整機的安裝十分的不方便，經常出現裝配不上和裝配困難等現象。

實用新型內容

針對以上問題本實用新型提供了一種便于規避加工、裝配誤差的新型集成電路測試模塊多級柔性盲插結構。本實用新型采用模塊的多級柔性盲插來規避上述加工、制造、裝配誤差，實現模塊的多級盲插的合格率和高效性。

為了解決以上問題，本實用新型采用了如下技術方案：一種新型集成電路測試模塊多級柔性盲插結構，包括框架主體、多級盲插模塊、pcb彈性導軌。所述的pcb彈性導軌上設有彈性卡槽、自鎖柱。所述的框架主體上設有盲插插座Ⅰ、盲插插座Ⅱ、定位孔、導軌座。所述的多級盲插模塊上設有盲插插頭Ⅰ、盲插插頭Ⅱ、裝配面、鎖緊機構。自鎖柱插定位孔，pcb彈性導軌通過定位孔和自鎖柱連接在框架主體上；裝配面插在彈性卡槽上，起到彈性導向定位的作用；盲插插頭Ⅰ、盲插插頭Ⅱ分別與盲插插座Ⅰ、盲插插座Ⅱ對接；鎖緊機構鎖緊在框架主體的導軌座上。

所述的pcb彈性導軌為4個，左右兩側各2個，自鎖柱設置在兩個pcb彈性導軌的對接端。

本實用新型與最接近的現有技術相比有以下有益效果：

本實用新型的pcb彈性導軌安裝在框架本體上，多級盲插模塊裝入該pcb彈性導軌后與框架本體上的多級對插過程中，彈性pcb導軌消除了相應的加工和裝配誤差，從而提高了多級盲插模塊安裝的合格率和高效性，并且降低了其他零部件的加工精度，從而降低了整機的設計和制造難度，間接的降低了制造成本。

附圖說明

圖1為本多級柔性盲插結構的示意圖。

圖2為本多級柔性盲插結構的剖視圖。

圖3為圖2中I處的局部放大圖。

圖4為圖2中IV處的局部放大圖。

圖5為圖2中II處的局部放大圖。

具體實施方式

下面結合附圖，對本實用新型作進一步詳細地說明。

如圖1至5所示，本實用新型提供了一種新型集成電路測試模塊多級柔性盲插結構，包括框架主體1、多級盲插模塊2、pcb彈性導軌3。所述的pcb彈性導軌3上設有彈性卡槽3-1、自鎖柱3-2。

所述的框架主體1上設有盲插插座Ⅰ1-1、盲插插座Ⅱ1-2、定位孔1-3、導軌座1-4。

所述的多級盲插模塊2上設有盲插插頭Ⅰ2-1、盲插插頭Ⅱ2-2、裝配面2-3、鎖緊機構2-4。