[實用新型]一種用于LC型非標準連接器3D檢測的夾具

有效

• 申請號: 201721891661.3
• 申請日: 2017-12-28
• 公開（公告）號: CN207736172U
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 蔡文龍;劉丹;黃望隆
• 申請（專利權）人: 武漢驛路通科技股份有限公司
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00;G02B6/38
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;李相雨

本實用新型提供一種用于LC型非標準連接器3D檢測的夾具，包括：夾具本體、L型凹槽、第一V型定位槽、L型壓塊、長方形方塊、方形定位缺口以及第二V型定位槽；其中，所述L型凹槽縱向貫穿所述夾具本體；所述第一V型定位槽設置在所述夾具本體底部邊緣；所述L型壓塊與所述L型凹槽配合連接，且一端與所述L型凹槽固定；所述長方形方塊與所述L型壓塊的側面連接；所述方形定位缺口設置于所述夾具本體底部邊緣；所述第二V型定位槽與所述夾具本體中軸線重合布置。本實用新型提供的用于LC型非標準連接器3D檢測的夾具，在使用3D檢測儀器時，可以將待測的LC連接頭精確定位在測試端面上。

技術領域

本實用新型涉及夾具技術領域，更具體地，涉及一種用于LC型非標準連接器3D檢測的夾具。

背景技術

隨著通信技術及其業務的飛速發展，大容量光纖通信系統的研究具有很大的應用價值。迄今已獲得的光纖最大傳輸容量只相當于其潛在容量的0.24。粗波分復用(CWDM)技術能很好地挖掘光纖的傳輸潛能。對它的研究與應用正在同時進行基于陣列波導光柵(AWG)的光器件在WDM技術中有重要的應用前景，其研究與開發工作最近幾年得到了很快的發展。

AWG的概念首先是由荷蘭Delft大學的Smit在1988年提出的。其重要的應用價值引起了NTT公司和Bell實驗室等的關注，研究人員在Si和InP材料上研制了不同指標的AWG器件樣品.并開始用于系統。隨著通信業務的發展和傳輸容量的激增，粗波分復用系統(CWDM)越來越受到人們的重視。早期應用于北美骨干網絡的CWDM，現在已經迅速的推進到全世界，而且廣泛應用到了城域網之中。目前國內外開發的CWDM技術主要有三種類型，他們分別基于陣列波導光柵(AWG—Arrayed Waveguide Grating)和介質膜濾光片(TFF)以及光纖光柵(FBG)技術。AWG是一種平面波導器件，是利用PLC技術在芯片襯底上制作的陣列波導光柵。現有技術為了解決硅基AWG芯片對溫度敏感的特點，通常使用溫度控制器和溫度控制電路來穩定中心輸出波長；但是，這也增加了AWG芯片的成本、尺寸，并且限制了AWG的應用范圍。

目前國內與FBG和TTF相比，AWG具有集成度高、通道數目多、插入損耗小，易于批量自動化生產等優點。但AWG芯片由于本身非常脆弱，對于其封裝要求較高。現有技術中，對于各種無源光器件和有源光器件的連接器多采用2.5mm插芯的SC連接頭和FC連接頭，少量采用1.25mm插芯的LC連接頭，而為了滿足現在有源器件集成度高的要求，大量LC非標準連接頭開始應用。而為了滿足LC非標準連接器的大規模應用，LC非標準連接器的3D檢測是其必不可少的一項檢測項目，而因為LC非標準連接器與現有的各種連接器結構不同，現有的3D檢測的夾具無法適配LC非標準連接器。

實用新型內容

為了至少部分地克服現有技術中存在的上述問題，本實用新型提供一種用于LC型非標準連接器3D檢測的夾具。

本實用新型提供一種用于LC型非標準連接器3D檢測的夾具，包括：夾具本體、L型凹槽、第一V型定位槽、L型壓塊、長方形方塊、方形定位缺口以及第二V型定位槽；其中，所述L型凹槽縱向貫穿所述夾具本體；所述第一V型定位槽設置在所述夾具本體底部邊緣；所述L型壓塊與所述L型凹槽配合連接，且一端與所述L型凹槽固定；所述長方形方塊與所述L型壓塊的側面連接；所述方形定位缺口設置于所述夾具本體底部邊緣；所述第二V型定位槽與所述夾具本體中軸線重合布置。

其中，所述夾具本體的材料為S136號不銹鋼，所述夾具本體為長方體，所述夾具本體的長度為50～51mm，寬度為22～21mm，高度為2.5～3.5mm。

其中，所述第一V型定位槽的寬度為4～5mm，角度為59～61°，且所述第一V型定位槽的中軸線距離夾具本體一側表面的距離為4～5mm。

其中，所述方形定位缺口的長度為8～9mm，寬度為1～2mm。

其中，所述L型壓塊與所述L型凹槽之間的寬度為0.1～0.5mm。