[實用新型]一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產線

有效

• 申請號: 201721887979.4
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN208043696U
• 公開（公告）日: 2018-11-02
• 發明（設計）人: 龔曙光;易國榮;賀建新;龍廣云
• 申請（專利權）人: 深圳市山達士電子有限公司
• 主分類號: G01N21/892
• 分類號: G01N21/892;B07C5/02;B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 深圳協成知識產權代理事務所(普通合伙) 44458
• 代理人: 章小燕

本實用新型公開了一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產線，旨在解決現有的封裝測試生產線，圖像采集準確性不高，而且檢測效率低的技術問題。該生產線包括上料老化測試裝置、涂覆封裝裝置、雙通道智能高速檢測機、合并出料裝置以及機架動力裝置，待封裝元件通過一電子元件編帶設置在上料老化測試裝置上進行拆帶轉換到第一山型輸送鏈條上，第一山型輸送鏈條將待封裝元件輸送到上料老化盤進行老化測試后進入到涂覆封裝裝置進行環氧樹脂封裝與烘烤處理；第二山型輸送鏈條將待檢測元件輸送到雙通道智能高速檢測機進行視覺檢測并分選，將檢測后的成品元件傳送到合并出料裝置進行編帶出料。

技術領域

本實用新型涉及電子元件生產檢測技術領域，特別涉及一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產線。

背景技術

電子元件，諸如電阻元件、電容元件等等，在電子元件制作完成后，還需要進行老化測試以及封裝作業，封裝完成后還需進行檢測，以判斷封裝成品是否存在品質瑕疵。

現有的電子元件進行性能測試時，一般采用獨立的測試設備，如老化測試設備，然后采用獨立的封裝設備進行封裝，封裝之后的電子元件一般通過圖像檢測方式，通過攝像頭來采集電子元件上下兩側的圖像，與預先存儲的標準電子元件圖像進行比對，從而實現對封裝后的電子元件進行外觀檢測。如公告號為CN 201662539 U的中國實用新型專利公開了一種高速側邊影像檢測裝置，適用于檢測封裝型電子元件，主要是在于一個能夠供封裝型電子元件依循滑移的軌道，兩側分別設有一個鏡片組件，每一個鏡片組件分別定義有一影像反射路徑，各該影像反射路徑定義有一個起始位置及一個終止位置，且每一個鏡片組件均具有多數位于各影像反射路徑上的鏡片，位于起始位置處的鏡片并外露于該軌道內側，而能將往返通過軌道的封裝型電子元件側邊影像通過其余鏡片的接續反射，而進一步傳遞給影像擷取元件，影像擷取元件所擷取的影像信號并傳遞至該電腦系統，以快速完成半導體封裝元件的檢測作業。

為了進一步提高電子元件測試、封裝檢測的效率，也可以將多種設備甚至在一條生產線上，連續完成上述工藝步驟。但是，現有的封裝檢測生產線存在以下缺陷：第一，由于采用山型卡槽傳送鏈條進行電子元件的傳送，若是采集電子元件上下兩側的圖像，由于電子元件在傳送過程中可能發生滾動，采集的圖像會存在缺陷；第二，若是將電子元件傳送到一間歇性的分度盤進行圖像采集，這樣測試的工作效率很低，一般低于200Pcs/min。第三，為了提升檢測速度，一般在傳送鏈條上直接采集電子元件圖像，由于在傳送鏈條上，電子元件緊密排列，在圖像采集時必須間歇性停止，才能夠保證相鄰之間的電子元件在圖像采集時不發生互相干擾，這樣大大限制了封裝檢測的效率。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種雙通道智能高速檢測機及其自動上料封裝檢測生產線，旨在解決現有的封裝測試生產線，圖像采集準確性不高，而且檢測效率低的技術問題。

為了解決上述技術問題，具體地，本實用新型的技術方案如下：

一種雙通道智能高速檢測機，包括通道分離裝置、上通道檢測裝置、下通道檢測裝置以及通道合并裝置，待檢測元件通過第二山型輸送鏈條輸送到通道分離裝置，通過所述通道分離裝置將所述第二山型輸送鏈條上的待檢測元件在兩條山型輸送鏈條上以均勻間隔一所述待檢測元件的方式分別輸送到所述上通道檢測裝置和所述下通道檢測裝置，所述上通道檢測裝置對應上側的第三山型輸送鏈條上的待檢測元件設置有多個以所述待檢測元件為圓周中心均勻分布的高速彩色相機，所述下通道檢測裝置對應下側的所述第二山型輸送鏈條上的待檢測元件設置有多個以所述待檢測元件為圓周中心均勻分布的高速彩色相機；上下兩側的所述待檢測元件通過所述高速彩色相機進行360度周向圖像采集后進入到所述通道合并裝置，所述通道合并裝置將兩條山型輸送鏈條上檢測合格的所述待檢測元件合并到第四山型輸送鏈條上，通過所述第四山型輸送鏈條輸送到下一工序。