[實(shí)用新型]一種有源信息組件測試裝置及測試夾具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721857253.6
• 申請日: 2017-12-27
• 公開（公告）號: CN207611103U
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭彥智;顧中學(xué)
• 申請（專利權(quán)）人: 四川福潤得數(shù)碼科技有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/25;H04L12/26
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 郭彩紅

本實(shí)用新型提供了一種有源信息組件測試裝置及測試夾具，測試裝置包括n個(gè)測試輸入接口，一一對應(yīng)連接到m路切換開關(guān)的n個(gè)輸入端；所述n個(gè)測試輸入接口一一對應(yīng)n個(gè)下拉電阻R連接到負(fù)電源，且n個(gè)測試輸入接口與所述n個(gè)下拉電阻R之間連接形成n個(gè)A節(jié)點(diǎn)；所述m路切換開關(guān)的n個(gè)輸入端一一對應(yīng)n個(gè)上拉電阻r連接到正電源，且所述n個(gè)輸入端與n個(gè)上拉電阻r之間連接形成n個(gè)B節(jié)點(diǎn)；一一對應(yīng)的A節(jié)點(diǎn)與B節(jié)點(diǎn)之間串聯(lián)有串聯(lián)電阻Z，共n個(gè)串聯(lián)電阻Z。便于實(shí)現(xiàn)被測組件是否有損失的測試，且保證在信號采集和測試過程中，不會給被測組件帶來新的損傷。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種有源信息組件測試裝置及測試夾具，涉及組件測試領(lǐng)域。

背景技術(shù)

有源信號組件：插接或焊接安裝于其他電路板上，指需要外部供電并可與外部通訊的電路組件，如WIFI組件、GPS組件、藍(lán)牙組件、調(diào)諧器組件等，其共同特征是需要電源供應(yīng)，能對輸入信號進(jìn)行處理并輸出，能與外部控制器進(jìn)行握手通訊，執(zhí)行相應(yīng)命令。

在有源信號組件的生產(chǎn)過程，需要經(jīng)過：貼片、裝配、測試、包裝等4個(gè)工藝環(huán)節(jié)，其中測試環(huán)節(jié)為關(guān)鍵工序環(huán)節(jié)，其需要驗(yàn)證組件的性能質(zhì)量是否滿足規(guī)格要求。

性能測試工序在測試時(shí)需要對組件上電，使組件進(jìn)入工作狀態(tài)，在其處于正常工作狀態(tài)下對其進(jìn)行相關(guān)性能指標(biāo)測試，包含接收靈敏度、抗干擾性、通訊協(xié)議、電源功耗等。

對于大量引腳數(shù)量多且密集的組件，如WIFI、GPS組件等，性能測試完畢即進(jìn)入包裝工序。對于部分引腳較少且引腳密度不高的組件，如調(diào)諧器組件等，在上述性能指標(biāo)測試完成后，需要使用數(shù)字萬用表再次對其進(jìn)行測試，具體測試方法為：

1）將紅表筆插入萬用表電壓/電阻端口，黑表筆插入萬用表的公共地端口；

2）萬用表切換為1k電阻測量檔，按下萬用表電源鍵，使其進(jìn)入工作狀態(tài)；

3）將萬用表的黑表筆穩(wěn)定接觸被測組件如調(diào)諧器的地，如金屬屏蔽罩等，將萬用表紅表筆接觸被測組件需要測試的引腳，如電源、通訊引腳等；

4）讀取萬用表顯示的測量值，判斷其是否滿足合格要求；

5）合格品進(jìn)入下一工序，不合格品取出并隔離。

6）在測試過程中必須保證靜電防護(hù)良好

之所以在性能測試完成后，需要再次使用數(shù)字萬用表對組件進(jìn)行測試，其原因?yàn)椋?/p>

1）在對組件進(jìn)行性能測試時(shí)，需要對被測組件進(jìn)行正常加電、初始化，在測試完成需要對組件斷電，由于測試治具接地、電源性能、加電或斷電過程不規(guī)范等原因，有一定比例會導(dǎo)致被測組件內(nèi)部與組件引腳端口相連的器件被損傷，而這些損傷可能是顯性損傷或隱性損傷。

顯性損傷可能直接導(dǎo)致被測組件性能降低或者損壞，有一定比例被后續(xù)性能測試工位發(fā)現(xiàn)，對于隱性損傷，其在短期內(nèi)并不影響被測組件性能，很難在組件出廠前被發(fā)現(xiàn)。

2）在被測組件進(jìn)入測試工序前，其已經(jīng)經(jīng)過貼片、裝配等工序，由于操作誤差，有一定機(jī)率導(dǎo)致組件損傷，對于隱性損傷由于其短期內(nèi)并不顯現(xiàn)，所以難以被后續(xù)的性能測試工序發(fā)現(xiàn)。

3）使用數(shù)字萬用表對組件進(jìn)行測試，在測試過程中，并不對組件的電源腳進(jìn)行加電，組件并不進(jìn)入工作狀態(tài)，理論上不會對組件造成新的損害。

4）使用數(shù)字萬用表電阻檔對組件外部引腳的對地電阻進(jìn)行測量，以檢查該引腳的對地阻抗是否滿足正常品要求，從而檢出受到隱性損傷的被測組件。

然而，使用萬用數(shù)字表對組件進(jìn)行性能測試存在如下問題：

1）測試準(zhǔn)確度一致性差

數(shù)字萬用表使用電池供電，其使用過程中電池電壓會發(fā)生變化，而變化的電池電壓直接影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性；

2）測試效率低下